ZnO薄膜的MOCVD同质外延生长及相关基础科学问题研究
项目介绍
AI项目解读
基本信息
- 批准号:61106004
- 项目类别:青年科学基金项目
- 资助金额:28.0万
- 负责人:
- 依托单位:
- 学科分类:F0401.半导体材料
- 结题年份:2014
- 批准年份:2011
- 项目状态:已结题
- 起止时间:2012-01-01 至2014-12-31
- 项目参与者:颜峰坡; 殷顺高; 曹庆; 邹婷; 郑清洪; 陈志;
- 关键词:
项目摘要
ZnO是一种直接带隙宽禁带半导体,在光电子器件领域有着广泛的应用前景。由于ZnO单晶衬底的相对稀缺,目前绝大多数ZnO薄膜是在晶格失配和热失配的异质衬底上生长的。异质外延是影响ZnO薄膜晶体质量和电光学性能,造成薄膜中存在大量缺陷和非故意掺杂杂质,并阻碍其应用的重要原因。在ZnO单晶衬底上进行同质外延生长,可望获得高质量、低缺陷密度的具有优异电光学性能的ZnO薄膜,从而促进ZnO基光电子器件的发展。本申请拟采用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)在课题组自有的ZnO单晶衬底上进行ZnO薄膜的同质外延生长研究,围绕提高ZnO薄膜晶体质量和降低缺陷密度开展工作,发展出高质量ZnO薄膜的MOCVD同质外延生长方法,获得高质量低背景载流子浓度的非掺高阻ZnO薄膜,获得电学性能稳定且载流子浓度可调控的n型ZnO薄膜,获得高质量单一六方相ZnMgO薄膜,并对MOCVD同质外延的优越性进行器件印证。
结项摘要
ZnO是一种直接带隙宽禁带半导体,在光电子器件领域有着广泛的应用前景。由于ZnO单晶衬底的相对稀缺,目前绝大多数ZnO薄膜是在晶格失配和热失配的异质衬底上生长的。异质外延是影响ZnO薄膜晶体质量和电光学性能,造成薄膜中存在大量缺陷和非故意掺杂杂质,并阻碍其应用的重要原因。在ZnO 单晶衬底上进行同质外延生长,可望获得高质量、低缺陷密度的具有优异电光学性能的ZnO薄膜,从而促进ZnO 基光电子器件的发展。本项目采用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)在石英玻璃、蓝宝石衬底上进行了异质外延生长,对MOCVD设备参数进行了调试优化,获得了单一取向的具有低背景电子浓度的高质量ZnO薄膜;在优化ZnO单晶衬底的表面处理工艺后,采用Zn面、O面ZnO单晶衬底进行了同质外延生长,获得了以二维层状生长的非掺ZnO薄膜;采用Mg掺杂对ZnO进行了能带工程,获得了单一六方相的ZnMgO薄膜,并研究了生长参数对Mg并入效率的影响规律。采用Al掺杂获得了低阻高迁移率的n型ZnO薄膜,研究了Al掺杂对ZnO薄膜的生长模式的影响机制,采用拉曼光谱研究了AZO薄膜中的电子和光学声子耦合相互作用,采用X射线吸收精细结构谱(XAFS)研究了两步法制备的AZO薄膜的电子结构。在器件仿真的基础上研制出了高响应的ZnMgO日盲紫外探测器。借助已经发展的较为成熟的GaAs HEMT器件进行了对HEMT生物传感器初步探索的工作,以期为制备ZnO基HEMT生物传感器奠定基础。
项目成果
期刊论文数量(9)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(1)
专利数量(0)
Steady-state characteristics and transient response of MgZnO-based metal-semiconductor-metal solar-blind ultraviolet photodetector with three types of electrode structures
三种电极结构MgZnO基金属-半导体-金属日盲紫外光电探测器的稳态特性和瞬态响应
- DOI:--
- 发表时间:2013
- 期刊:Optics Express
- 影响因子:3.8
- 作者:Wang; Ping;Zhen; Qinghong;Tang; Qing;Yang; Yintang;Guo; Lixin;Ding; Kai;Huang; Feng
- 通讯作者:Feng
High-Responsivity Solar-Blind Photodetector Based on Mg0.46Zn0.54O Thin
基于Mg0.46Zn0.54O薄层的高响应度日盲光电探测器
- DOI:--
- 发表时间:2012
- 期刊:IEEE Electron Device Letters
- 影响因子:4.9
- 作者:Zheng; Qinghong;Huang; Feng;Huang; Jin;Hu; Qichan;Chen; Dagui;Ding; Kai
- 通讯作者:Kai
Dependence of structural and optoelectronic properties of sputtered Mg0.50Zn0.50O films on substrate
溅射 Mg0.50Zn0.50O 薄膜的结构和光电性能对基底的依赖性
- DOI:10.48550/arxiv.1307.6717
- 发表时间:2013
- 期刊:CrystEngComm
- 影响因子:3.1
- 作者:Zheng; Qinghong;Huang; Feng;Huang; Jin;Hu; Qichang;Chen; Dagui;Ding; Kai
- 通讯作者:Kai
Fabrication and Energy Band Alignment of n-ZnO/p-CuI Heterojunction
n-ZnO/p-CuI 异质结的制备和能带排列
- DOI:10.1109/led.2012.2218274
- 发表时间:2012
- 期刊:IEEE Electron Device Letters
- 影响因子:4.9
- 作者:K. Ding;Q. C. Hu;D. G. Chen;Q. H. Zheng;X. G. Xue;F. Huang
- 通讯作者:F. Huang
Specific Detection of Alpha-Fetoprotein Using AlGaAs/GaAs High Electron Mobility Transistors
使用 AlGaAs/GaAs 高电子迁移率晶体管特异性检测甲胎蛋白
- DOI:10.1109/led.2014.2298397
- 发表时间:2014
- 期刊:IEEE Electron Device Letters
- 影响因子:4.9
- 作者:Wang; Chengyan;Zhang; Bintian;Zhang; Yang;Guan; Min;Cui; Lijie;Zhang; Yuwei;Zeng; Yiping;Lin; Zhang;Huang; Feng
- 通讯作者:Feng
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- DOI:--
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- 期刊:工具技术
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- 作者:徐铭洲;丁凯;李奇林;王许;刘盛
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- 影响因子:--
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- 通讯作者:丁凯
其他文献
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