Probing magnetic impurities in superconducting thin-film multilayers used for fabrication of quantum processor chips

探测用于制造量子处理器芯片的超导薄膜多层中的磁性杂质

基本信息

批准号：
501041-2016
负责人：
Wei, John
金额：
$ 1.82万
依托单位：
University of Toronto
依托单位国家：
加拿大
项目类别：
Engage Grants Program
财政年份：
2016
资助国家：
加拿大
起止时间：
2016-01-01 至 2017-12-31
项目状态：
已结题

来源：
https://www.nserc-crsng.gc.ca/ase-oro/Details-Detailles_eng.asp?id=608429
关键词：
Probing magnetic impurities superconducting thin

项目摘要

This Engage project is aimed at probing microscopic magnetic impurities that are present in superconducting thin-film multilayers used as precursors for fabricating quantum processor chips based on rf-SQUID flux qubits. These quantum processors are at the crux of the quantum computing technology produced by D-Wave Systems Inc. This Canadian-founded company is the global leader in commercial development of this disruptively new information technology. Since magnetic impurities produce on-chip flux noise, identifying their location in the multilayers and their origin in the fabrication process will help to improve the manufacturing yield and device performance of the superconducting quantum processor chips.

该 Engage 项目旨在探测超导薄膜多层中存在的微观磁性杂质，超导薄膜多层用作制造基于 rf-SQUID 通量量子位的量子处理器芯片的前体。这些量子处理器是 D-Wave Systems Inc. 生产的量子计算技术的关键。这家加拿大成立的公司是这种颠覆性新信息技术商业开发的全球领导者。由于磁性杂质会产生片上通量噪声，因此识别它们在多层中的位置及其在制造过程中的来源将有助于提高超导量子处理器芯片的制造产量和器件性能。

项目成果

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通讯作者：
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DOI：
10.1016/j.neo.2014.11.006
发表时间：
2014-12
期刊：
Neoplasia (New York, N.Y.)
影响因子：
0
作者：
Mehra, Rohit;Shi, Yang;Udager, Aaron M.;Prensner, John R.;Sahu, Anirban;Iyer, Matthew K.;Siddiqui, Javed;Cao, Xuhong;Wei, John;Jiang, Hui;Feng, Felix Y.;Chinnaiyan, Arul M.
通讯作者：
Chinnaiyan, Arul M.