Imaging hierarchical structures of surfaces and buried interfaces by using X-ray scattering

使用 X 射线散射对表面和掩埋界面的分层结构进行成像

基本信息

批准号：
18H03479
负责人：
Tajiri Hiroo
金额：
$ 11.32万
依托单位：
Japan Synchrotron Radiation Research Institute
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
起止时间：
2018-04-01 至 2021-03-31
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18H03479/
关键词：
放射光表面・界面 X線散乱階層構造

项目摘要

项目成果

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专利数量（0）

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DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
H. Tajiri; H. Yamazaki; H. Ohashi; S. Goto; O. Sakata; T. Ishikawa
通讯作者：
T. Ishikawa

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DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
田尻寛男
通讯作者：
田尻寛男

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DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
田尻寛男
通讯作者：
田尻寛男

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尝试使用相干散射进行硬 X 射线在线全息术

DOI：
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
0
作者：
田尻寛男
通讯作者：
田尻寛男

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DOI：
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
0
作者：
Hidenori Toyokawa
通讯作者：
Hidenori Toyokawa

DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
3.7
作者：
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通讯作者：
Shimakawa Yuichi

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DOI：
10.1007/s10909-021-02652-1
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
2
作者：
Yamaguchi Akira;Tajiri Hiroo;Kumashita Atsuki;Usami Jun;Yamane Yu;Sumiyama Akihiko;Suzuki Masaru;Minoguchi Tomoki;Sakurai Yoshiharu;Fukuyama Hiroshi
通讯作者：
Fukuyama Hiroshi