Development of a microfabrication/analysis system using a probe microscope capable of irradiating an atmospheric pressure plasma jet
开发使用能够照射大气压等离子体射流的探针显微镜的微加工/分析系统
基本信息
- 批准号：17H03156
- 负责人：
- 金额：$ 11.32万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份：2017
- 资助国家：日本
- 起止时间：2017-04-01 至 2020-03-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
走査型ナノピペットプローブ顕微鏡を用いて局所照射した水蒸気添加の大気圧プラズマジェットによるポリマー表面の微細加工
使用扫描纳米移液器探针显微镜，使用局部照射的水蒸气添加大气压等离子体射流对聚合物表面进行微加工
- DOI：
- 发表时间：2017
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：山本 将; 森松 大亮; 中村 篤志; 荻野 明久;永津 雅章; 岩田 太
- 通讯作者：岩田 太
Fine Processing of materials by localized atmospheric pressure plasma jet using a scanning nanopipette probe microscope
使用扫描纳米移液管探针显微镜通过局部大气压等离子体射流对材料进行精细加工
- DOI：
- 发表时间：2018
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：F. Iwata
- 通讯作者：F. Iwata
A novel fine deposition technique using ananopipette probe microscope capable of irradiation of alocalized APPJ
一种新型精细沉积技术，使用能够照射局部 APPJ 的纳管探针显微镜
- DOI：
- 发表时间：2018
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：S. Yamamoto; D. Morimatsu; M. Shimomura; A. Ogino; M. Nagatsu;F. Iwata
- 通讯作者：F. Iwata
Fine processing of polymer by localized atmospheric pressure plasma jet using helium source gas mixed with reactive gas
使用氦源气体与反应气体混合的局部大气压等离子体射流精细加工聚合物
- DOI：
- 发表时间：2017
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：S. Yamamoto; D. Morimatsu; A; Nakamura; A; Ogino; M; Nagatsu; F. Iwata
- 通讯作者：F. Iwata
ナノピペットノズルを有する大気圧高周波プラズマジェット局所照射装置の開発と表面微細加工への応用
纳米喷嘴常压高频等离子射流局部辐照装置研制及其在表面微加工中的应用
- DOI：
- 发表时间：2019
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：戸田 竣;下村 勝;荻野 明久;永津 雅章;中澤 謙太;岩田 太
- 通讯作者：岩田 太
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- 影响因子：1.8
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Ushiki Tatsuo
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