Study of atomic level magnetization of spin device electrode by atomic force / scanning tunneling microscopy
原子力/扫描隧道显微镜研究自旋器件电极的原子级磁化强度
基本信息
- 批准号:16H03872
- 负责人:
- 金额:$ 10.82万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2016
- 资助国家:日本
- 起止时间:2016-04-01 至 2019-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
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专利数量(0)
Surface structure switching between (1x1) and (1x 2) of rutile TiO2(110) with scanning tunneling microscopy and low energy electron diffraction
使用扫描隧道显微镜和低能电子衍射在金红石 TiO2(110) 之间进行 (1x1) 和 (1x 2) 表面结构切换
- DOI:
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:S. Ojima; D. Katsube; H. Yamashita; Y. Miyato; S. Abo;M. Abe
- 通讯作者:M. Abe
Imaging patterns of anatase TiO2(001) with non-contact atomic force microscopy
锐钛矿型 TiO2(001) 的非接触式原子力显微镜成像图
- DOI:10.1088/1361-6528/ab02a7
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:3.5
- 作者:D. Katsube;M. Abe
- 通讯作者:M. Abe
Atom manipulation method to substitute individual adsorbate atoms into a Si(111)-(7 × 7) substrate at room temperature
室温下将单个吸附原子替换到 Si(111)-(7 × 7) 衬底中的原子操纵方法
- DOI:10.1063/1.5008503
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:4
- 作者:Yurtsever Ayhan;Abe Masayuki;Morita Seizo;Sugimoto Yoshiaki
- 通讯作者:Sugimoto Yoshiaki
Role of lateral forces on atom manipulation process on Si(111)-(7×7) surface in dynamic force microscopy
动态力显微镜中横向力对Si(111)-(7×7)表面原子操纵过程的作用
- DOI:10.1103/physrevb.96.155412
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:3.7
- 作者:Yurtsever Ayhan;Abe Masayuki;Morita Seizo;Sugimoto Yoshiaki
- 通讯作者:Sugimoto Yoshiaki
Imaging Contrast of Anatase TiO2(001) with Non-Contact Atomic Force Microscop
锐钛矿型 TiO2(001) 与非接触原子力显微镜的成像对比
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:M. Abe
- 通讯作者:M. Abe
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Role of lateral forces on atom manipulation process on Si(111)-(7×7) surface in dynamic force microscopy
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- 影响因子:3.7
- 作者:
Yurtsever Ayhan;Abe Masayuki;Morita Seizo;Sugimoto Yoshiaki - 通讯作者:
Sugimoto Yoshiaki
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- 作者:
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Atom manipulation method to substitute individual adsorbate atoms into a Si(111)-(7 × 7) substrate at room temperature
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- DOI:
10.1063/1.5008503 - 发表时间:
2017 - 期刊:
- 影响因子:4
- 作者:
Yurtsever Ayhan;Abe Masayuki;Morita Seizo;Sugimoto Yoshiaki - 通讯作者:
Sugimoto Yoshiaki
Combined pulsed laser deposition and non-contact atomic force microscopy system for studies of insulator metal oxide thin films
脉冲激光沉积和非接触式原子力显微镜系统相结合,用于研究绝缘体金属氧化物薄膜
- DOI:
10.3762/bjnano.9.63 - 发表时间:
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Katsube Daiki;Yamashita Hayato;Abo Satoshi;Abe Masayuki - 通讯作者:
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10.1063/1.5008503 - 发表时间:
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