Realization of n-type AlN by clarifying the mechanism of point defect formation in bulk AlN crystal

通过阐明块状 AlN 晶体中点缺陷形成的机制实现 n 型 AlN

基本信息

  • 批准号:
    15H03555
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 10.98万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2015
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2015-04-01 至 2018-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(0)
专著数量(0)
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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Linkoping University(Sweden)
林雪平大学(瑞典)
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
高温AlN-HVPEにおける系内酸素がSiドープ量に与える影響
体系中氧对高温AlN-HVPE中Si掺杂量的影响
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    小西敬太;山本玲緒;富樫理恵;永島徹;木下亨;Rafael Dalmau;Raoul Schlesser;村上尚;Ramon Collazo;Bo Monemar;Zlatko Sitar;熊谷義直
  • 通讯作者:
    熊谷義直
Development of bulk AlN substrates for deep-UV optoelectronic devices by HVPE method
HVPE法开发深紫外光电子器件用块状AlN衬底
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yoshinao Kumagai; Rie Togashi; Toru Nagashima; Toru Kinoshita; Reo Yamamoto; Rafael Dalmau; Raoul Schlesser; Hisashi Murakami; Ramon Collazo; Akinori Koukitu; Bo Monemar;Zlatko Sitar
  • 通讯作者:
    Zlatko Sitar
Characterization of threading dislocations in HVPE-grown AlN substrates by wet chemical etching
通过湿化学蚀刻表征 HVPE 生长的 AlN 衬底中的螺纹位错
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Taro Mitsui; Mari Higuchi; Toru Nagashima; Toru Kinoshita; Reo Yamamoto; Galia Pozina; Rafael Dalmau; Raoul Schlesser; Ramon Collazo; Bo Monemar; Zlatko Sitar;Yoshinao Kumagai
  • 通讯作者:
    Yoshinao Kumagai
Wet chemical etching of MOVPE-AlN templates for evaluation of threading dislocations
MOVPE-AlN 模板的湿法化学蚀刻用于评估螺纹位错
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Taro Mitsui; Mari Higuchi; Toru Nagashima; Toru Kinoshita; Reo Yamamoto; Bo Monemar;Yoshinao Kumagai
  • 通讯作者:
    Yoshinao Kumagai
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Kumagai Yoshinao其他文献

Growth of Highly Crystalline GaN at High Growth Rate by Trihalide Vapor‐Phase Epitaxy
通过三卤化物气相外延以高生长速率生长高结晶 GaN
  • DOI:
    10.1002/pssb.201900564
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yamaguchi Akira;Oozeki Daisuke;Kawamoto Naoya;Takekawa Nao;Bulsara Mayank;Murakami Hisashi;Kumagai Yoshinao;Matsumoto Koh;Koukitu Akinori
  • 通讯作者:
    Koukitu Akinori
Observation of nanopipes in edge-defined film-fed grown β-Ga2O3 substrate and their effect on homoepitaxial surface hillocks
边缘限定薄膜馈送生长 β-Ga2O3 衬底中纳米管的观察及其对同质外延表面小丘的影响
  • DOI:
    10.35848/1347-4065/acc18e
  • 发表时间:
    2023
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Nishikawa Tomoka;Goto Ken;Murakami Hisashi;Kumagai Yoshinao;Uemukai Masahiro;Tanikawa Tomoyuki;Katayama Ryuji
  • 通讯作者:
    Katayama Ryuji
Observation of nanopipes in edge-defined film-fed grown β-Ga2O3 substrate and their effect on homoepitaxial surface hillocks
边缘限定薄膜馈送生长 β-Ga2O3 衬底中纳米管的观察及其对同质外延表面小丘的影响
  • DOI:
    10.35848/1347-4065/acc18e
  • 发表时间:
    2023
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Nishikawa Tomoka;Goto Ken;Murakami Hisashi;Kumagai Yoshinao;Uemukai Masahiro;Tanikawa Tomoyuki;Katayama Ryuji
  • 通讯作者:
    Katayama Ryuji
Characterization of electrical properties of β-Ga2O3 epilayer and bulk GaAs using terahertz time-domain ellipsometry
使用太赫兹时域椭圆光度法表征 β-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub> 外延层和体 GaAs 的电性能
  • DOI:
    10.35848/1347-4065/acbc84
  • 发表时间:
    2023
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Iwamoto Toshiyuki;Agulto Verdad C.;Liu Shuang;Wang Youwei;Mag;Fujii Takashi;Goto Ken;Kumagai Yoshinao;Nakajima Makoto
  • 通讯作者:
    Nakajima Makoto
Characterization of electrical properties of β-Ga2O3 epilayer and bulk GaAs using terahertz time-domain ellipsometry
使用太赫兹时域椭圆光度法表征 β-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub> 外延层和体 GaAs 的电性能
  • DOI:
    10.35848/1347-4065/acbc84
  • 发表时间:
    2023
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Iwamoto Toshiyuki;Agulto Verdad C.;Liu Shuang;Wang Youwei;Mag;Fujii Takashi;Goto Ken;Kumagai Yoshinao;Nakajima Makoto
  • 通讯作者:
    Nakajima Makoto

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    $ 10.98万
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    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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