Si基板上への窒化物半導体の選択MOVPE成長及びその光デバイス応用に関する研究

硅衬底上氮化物半导体选择性MOVPE生长及其光器件应用研究

基本信息

  • 批准号:
    13J05262
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.28万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
  • 财政年份:
    2013
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2013-04-01 至 2015-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

Si(001)基板上に面内配向性を持った単結晶GaNを得るためにAl初期配向層および指向性スパッタリングを併用する方法を提案した。指向性スパッタリングとは基板を回転せず固定し、特定のSi面内方向、この場合Si[110]方向をスパッタリングターゲット方向に向けてスパッタリング成膜を行う方法である。指向性スパッタリングを用いて成膜したAl初期配向層およびAlN中間層を用いてGaN成長を行ったところ、Si(001)基板上に(10-13)GaNの単結晶成長が可能であることが分かった。X線回折によって、得られた(10-13)GaNの面内c軸方向を調べたところ、指向性スパッタリングを行ったSi[110]方向と平行な方向であることが確かめられた。これらの実験によってGaNのc軸方向が指向性スパッタリングを行うSi[110]方向に対応していることを確かめた。更に得られた(10-13)GaNのMOVPE成長条件最適化を試み、低V/III比及び低圧条件下によって、平坦化した(10-13)GaNがSi(001)基板上に得られることを示した。得られた(10-13)GaNの結晶成長のメカニズムを明らかとするために、断面のTransmission Electron Microscope(TEM)観察を行った。初期のAl結晶核はSi(001)基板の結晶構造と同一のAl(001)配向しており、その後のAlN成長からc軸が傾いて成長していることが分かった。AlN、GaNそれぞれの結晶成長過程においてc軸方向はばらつきがあるものの、GaNを数100 nm成長することで、GaN上部では配向が均一な単結晶GaNとなることが、TEM観察から明らかとなった。
我们提出了一种利用Al初始取向层和定向溅射在Si(001)衬底上获得面内取向的单晶GaN的方法。定向溅射是固定基板而不旋转,以特定的Si面内方向(在本例中为Si[110]方向)朝向溅射靶材进行溅射成膜的方法。当使用Al初始取向层和利用定向溅射沉积的AlN中间层来生长GaN时,发现在Si(001)衬底上生长(10-13)GaN是可能的。当通过X射线衍射检查所获得的(10-13)GaN的面内c轴方向时,确认该方向与进行定向溅射的Si[110]方向平行。通过这些实验,我们确认了GaN的c轴方向对应于进行定向溅射的Si[110]方向。此外,我们尝试优化所获得的(10-13)GaN的MOVPE生长条件,发现在低V/III比和低压条件下可以在Si(001)衬底上获得平坦的(10-13)GaN表明。为了阐明所获得的(10-13)GaN的晶体生长机制,我们对截面进行了透射电子显微镜(TEM)观察。发现初始Al晶核具有Al(001)取向,与Si(001)衬底的晶体结构相同,随后的AlN生长表明它们以c轴倾斜的方式生长。尽管AlN和GaN的晶体生长过程中c轴方向存在变化,但TEM观察表明,通过将GaN生长至数百nm,可以在GaN顶部形成具有均匀取向的单晶GaN。

项目成果

期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Nano channel epitaxy of GaN on the lateral side of the sputtered AlN filmon (111) Si substrate
(111) Si 衬底上溅射 AlN 薄膜侧面的 GaN 纳米沟道外延
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Mitsunari;Y. Honda;H. Amano;H. Saito;H. Saito;光成 正;H. Saito;光成 正
  • 通讯作者:
    光成 正
指向性スパッタリングAlN中間層を用いたSi(001)基板上単結晶(10-13)GaN成長
使用定向溅射 AlN 中间层在 Si(001) 衬底上生长单晶 (10-13) GaN
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    光成正;本田善央;天野浩
  • 通讯作者:
    天野浩
Ti初期配向層導入によるSi基板上スパッタAlNの配向性向上
通过引入 Ti 初始取向层改善 Si 衬底上溅射 AlN 的取向
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Mitsunari;Y. Honda;H. Amano;H. Saito;H. Saito;光成 正
  • 通讯作者:
    光成 正
Orientation improvement of AlN with thin Ti pre-deposition on the Si (001) substrate
Si (001) 衬底上预沉积薄 Ti 改善 AlN 的取向
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    光成正;本田善央;天野浩
  • 通讯作者:
    天野浩
Selective-area growth of GaN on the patterned AlN on Si substrate
GaN 在 Si 衬底上图案化 AlN 上的选择性区域生长
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Mitsunari;Y. Honda;H. Amano;H. Saito;H. Saito;光成 正;H. Saito;光成 正;H. Saito;H. Saito;Tadashi Mitsunari;H. Saito;Tadashi Mitsunari
  • 通讯作者:
    Tadashi Mitsunari
{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ patent.updateTime }}

光成 正其他文献

GaNにおける放射線検出特性の実験的評価(2)
GaN辐射探测特性的实验评估(2)
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    杉浦 睦仁;久志本 真希;光成 正;山下 康平;本田 善央;天野 浩;三村 秀典;井上 翼;青木 徹;中野 貴之
  • 通讯作者:
    中野 貴之
Characterization of Battery Materials by X-ray Compton Scattering
X 射线康普顿散射表征电池材料
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    黒川 純平;光成 正;近藤 博基;堤 隆嘉;関根 誠;石川 健治;堀 勝;森浩二他;祖谷元;H. Sakurai
  • 通讯作者:
    H. Sakurai
Characterization of light-emitting diode efficiency by biased photocurrent and photoluminescence measurement
通过偏置光电流和光致发光测量表征发光二极管效率
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    宇佐美 茂佳;光成 正;本田 善央;天野 浩
  • 通讯作者:
    天野 浩
C3H6/H2プラズマを用いた水素化アモルファスカーボン成膜における成膜前駆体と膜特性の相関関係
使用 C3H6/H2 等离子体形成氢化非晶碳膜时膜前驱体与膜特性之间的相关性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    黒川 純平;光成 正;近藤 博基;堤 隆嘉;関根 誠;石川 健治;堀 勝
  • 通讯作者:
    堀 勝
自由表面を伴う非圧縮性流れの数学解析
自由表面不可压缩流动的数学分析
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Mitsunari;Y. Honda;H. Amano;H. Saito;H. Saito;光成 正;H. Saito
  • 通讯作者:
    H. Saito

光成 正的其他文献

{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

相似海外基金

Direct growth of ternary or higher arsenide-based semiconductors on Si(001) epitaxial substrates
在 Si(001) 外延衬底上直接生长三元或更高砷化物基半导体
  • 批准号:
    23K04598
  • 财政年份:
    2023
  • 资助金额:
    $ 1.28万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Electronic structures beneath IV semiconductor surfaces probed by photoelectron and luminescence spectroscopies
通过光电子和发光光谱探测 IV 半导体表面下的电子结构
  • 批准号:
    22K04926
  • 财政年份:
    2022
  • 资助金额:
    $ 1.28万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Surface reaction kinetics in no-thermal equilibrium states: Simultaneous observation of strain and reaction rate by surface analysis methods
非热平衡状态下的表面反应动力学:通过表面分析方法同时观察应变和反应速率
  • 批准号:
    19K05260
  • 财政年份:
    2019
  • 资助金额:
    $ 1.28万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Scanning tunneling microscopy and -spectroscopy of GaP layers on Si(001)
Si(001) 上 GaP 层的扫描隧道显微镜和光谱学
  • 批准号:
    252528669
  • 财政年份:
    2014
  • 资助金额:
    $ 1.28万
  • 项目类别:
    Research Grants
電界効果トランジスタゲートスタック絶縁膜形成機構と絶縁破壊機構統合モデルの研究
场效应晶体管栅叠层绝缘膜形成机理与介质击穿机理集成模型研究
  • 批准号:
    14J04955
  • 财政年份:
    2014
  • 资助金额:
    $ 1.28万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
{{ showInfoDetail.title }}

作者:{{ showInfoDetail.author }}

知道了