Development of analytical method with a microcalorimeter-EDS on TEM and its application for metallic materials

TEM微量热仪-EDS分析方法的建立及其在金属材料中的应用

• 批准号: 22560028
• 负责人: HARA Toru
• 金额: $ 2.33万
• 依托单位: National Institute for Materials Science
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22560028/
• 关键词: 電子顕微鏡; 金属組織; X線分光; 超伝導材料・素子; 超精密計測; 解析・評価; 金属物性

In order to realize precise compositional analysis, we have developed a new type of X-ray detector for a transmission electron microscope based on a superconductor technology called “Transition-edge sensor”. It shows ten-fold higher energy resolution compare to a standard Si(Li)type X-ray detector. In this study, we constructed analytical method suitable for this new detector and applied to some metallic materials. We showed that this detector has very high sensitivity and can detect and analyze very small amount of segregation across the boundary.

为了实现精确的成分分析，我们开发了一种基于超导技术的新型透射电子显微镜X射线探测器，称为“过渡边缘传感器”，其能量分辨率比标准硅高十倍。 (Li)型X射线检测器在这项研究中，我们构建了适合这种新型检测器的分析方法，并将其应用于一些金属材料，我们表明该检测器具有非常高的灵敏度，并且可以检测和分析极少量的偏析。边界。

项目成果

透過型電子顕微鏡の組成分析への超伝導遷移端センサの応用

超导跃迁边缘传感器在透射电子显微镜成分分析中的应用

• 发表时间: 2012
• 作者: 原徹;田中啓一;前畑京介;満田和久
• 通讯作者: 満田和久

マイクロカロリメータ型EDSによる金属材料中の微量添加元素の検出下限値の評価

微量热仪型EDS对金属材料中痕量添加元素检出下限的评价

• 发表时间: 2012
• 作者: 原 徹;澤田浩太;井 誠一郎;田中啓一;大柿真毅;松村 晶;椎山謙一;藤 昇一
• 通讯作者: 藤 昇一

Development of an Analytical TEM with a TES microcalorimeter EDS

开发带有 TES 微量热计 EDS 的分析 TEM

• 发表时间: 2013
• 作者: 原 徹

超伝導マイクロカロリメータ(TES)分析電子顕微鏡への期待

对超导微量热计（TES）分析电子显微镜的期望

• 发表时间: 2013
• 作者: 松村 晶

透過型電子顕微鏡の組成分析への超伝導遷移端センサの応用

超导跃迁边缘传感器在透射电子显微镜成分分析中的应用

• 发表时间: 2012
• 作者: 原 徹;田中啓一;前畑京介;満田和久
• 通讯作者: 満田和久