Study on acceptor level and thermal stability of Si-doped p-type GaAsSb

Si掺杂p型GaAsSb的受主能级及热稳定性研究

基本信息

  • 批准号:
    17K05046
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2017
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2017-04-01 至 2020-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
GaAsSb結晶中のSiアクセプタ準位評価
GaAsSb 晶体中 Si 受主水平的评估
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    杉田 有哉;田中 滉士;和泉 志男;横山 春喜
  • 通讯作者:
    横山 春喜
Siドープp型GaAsSbの正孔散乱機構解析
Si掺杂p型GaAsSb空穴散射机理分析
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    森 友希;横山 春喜
  • 通讯作者:
    横山 春喜
Si ドープp 型GaAsSb 層のホール効果測定
Si掺杂p型GaAsSb层的霍尔效应测量
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    杉田 有哉;田中 滉士;和泉 志男;横山 春喜;鈴木裕史,水戸部大地;和泉志男,横山春喜,杉田有哉
  • 通讯作者:
    和泉志男,横山春喜,杉田有哉
Siドープp型GaAsSbの正孔散乱機構解析
Si掺杂p型GaAsSb空穴散射机理分析
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    森 友希;横山 春喜
  • 通讯作者:
    横山 春喜
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  • 通讯作者:
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  • 发表时间:
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  • 通讯作者:
    Kusumoto Shinji

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