Establishment of Scientific Basis of the Strength and Reliability of Materials Based on the Order of Atom Arrangement and Its Application to the Explication of the Degradation Process of Materials

基于原子排列顺序的材料强度和可靠性科学依据的建立及其在解释材料降解过程中的应用

基本信息

批准号：
16H06357
负责人：
Miura Hideo
金额：
$ 67.23万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
起止时间：
2016-05-31 至 2021-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

项目成果

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专利数量（0）

Initial Intergranular Cracking of Ni-Base Superalloys Due to the Degradation of the Crystallinity of Grain Boundaries Under Creep-Fatigue Loading

蠕变疲劳载荷下晶界结晶度退化导致镍基高温合金的初始晶间裂纹

DOI：
10.1007/978-3-030-47883-4_58
发表时间：
2020
期刊：
International Conference on Theoretical, Applied and Experimental Mechanics, proceeding
影响因子：
0
作者：
Suzuki Wataru;Luo Yifan;Ishihara Kenta;Suzuki Kens;Miura Hideo
通讯作者：
Miura Hideo

Crystallinity-Induced Variation of the Yield Strength of Electroplated Copper Thin Films

结晶度引起的电镀铜薄膜屈服强度的变化

DOI：
10.1115/imece2017-70302
发表时间：
2017
期刊：
ASME 2017 International Mechanical Engineering Congress and Exposition
影响因子：
0
作者：
Yifan Luo;Kunio Tei;Ken Suzuki;Hideo Miura
通讯作者：
Hideo Miura

Largely Deformable and Highly Sensitive Strain Sensor Using Carbon Nanomaterials

使用碳纳米材料的大变形高灵敏度应变传感器

DOI：
10.1115/imece2017-70388
发表时间：
2017
期刊：
ASME 2017 International Mechanical Engineering Congress and Exposition
影响因子：
0
作者：
Kanji Yumoto;Ken Suzuki and Hideo Miura
通讯作者：
Ken Suzuki and Hideo Miura

Semi-quantitative creep-fatigue damage analysis based on diffraction-based misorientation mapping and the correlation to macroscopic damage evolutions

DOI：
10.1016/j.ijfatigue.2021.106227
发表时间：
2021-03
期刊：
International Journal of Fatigue
影响因子：
6
作者：
Run-Zi Wang;Lv-Yi Cheng;Shun‐Peng Zhu;P. Zhao;H. Miura;Xian‐Cheng Zhang;S. Tu
通讯作者：
Run-Zi Wang;Lv-Yi Cheng;Shun‐Peng Zhu;P. Zhao;H. Miura;Xian‐Cheng Zhang;S. Tu

華東理工大学/北京科学技術大学/清華大学(中国)

华东理工大学/北京科技大学/清华大学（中国）

DOI：
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作者：
通讯作者：

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Miura Hideo其他文献

On the one-peak stationary solutions for the Schnakenberg model with heterogeneity

异质性 Schnakenberg 模型的单峰平稳解

DOI：
发表时间：
2020
期刊：
RIMS Kokyuroku
影响因子：
0
作者：
Takahashi Yukako;Luo Yifan;Ishihara Kenta;Suzuki Shujiro;Miura Hideo;Ishii Yuta
通讯作者：
Ishii Yuta

3d遷移元素から構成される複合金属粒子のNO還元活性

3D过渡元素复合金属颗粒的NO还原活性

DOI：
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
0
作者：
Goundar Jowesh Avisheik;Xiangyu Qiao;Suzuki Ken;Miura Hideo;宮原悠馬，平川大希，芳田嘉志，大山順也，町田正人;西山昂志，平川大希，佐藤徹哉，芳田嘉志，大山順也，町田正人;Jowesh Avisheik Goundar;Jowesh Avisheik Goundar;宮原悠馬，平川大希，芳田嘉志，大山順也，町田正人
通讯作者：
宮原悠馬，平川大希，芳田嘉志，大山順也，町田正人

Long-range topological correlations of real polycrystalline grains in two dimensions

二维真实多晶晶粒的长程拓扑相关性

DOI：
10.1016/j.matchar.2014.09.017
发表时间：
2014-11
期刊：
Materials Characterization
影响因子：
4.7
作者：
Wang Hao;Liu Guoquan;Chen Ying;Saengdeejing Arkapol;Miura Hideo;Suzuki Ken
通讯作者：
Suzuki Ken

Point Defect-Induced Variation of Electronic Properties and Reliability of Oxides for High Performance Devices

点缺陷引起的电子特性变化和高性能器件氧化物的可靠性

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
0
作者：
Goundar Jowesh Avisheik;Xiangyu Qiao;Suzuki Ken;Miura Hideo;Qinqiang Zhang; Ken Suzuki; Hideo Miura;Meng Yin;Hideo MIURA
通讯作者：
Hideo MIURA

グラフェンの電子バンド構造に及ぼす基板材料の影響の第一原理解析

第一性原理分析衬底材料对石墨烯电子能带结构的影响

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
0
作者：
Goundar Jowesh Avisheik;Xiangyu Qiao;Suzuki Ken;Miura Hideo;Qinqiang Zhang; Ken Suzuki; Hideo Miura;Meng Yin;Hideo MIURA;Jowesh Goundar;喬　向宇;長谷川堅隆
通讯作者：
長谷川堅隆