The measurement of LHD plasmas using X-ray imaging polarimeter

使用 X 射线成像旋光计测量 LHD 等离子体

• 批准号: 20740320
• 负责人: SAKURAI Ikuya
• 金额: $ 2.83万
• 依托单位: Nagoya University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2008
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2008 至 2010
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-20740320/
• 关键词: プラズマ; X線; 偏光計

We developed an X-ray imaging polarimeter to measure the X-ray polarization from high temperature plasmas on the Large Helical Device (LHD). The X-ray polarimeter is based on the photoelectric effect in gas to detect X-ray polarization. In order to trace a photoelectron track in the gas, we have to measure the electron distribution which is produced by a photoelectron ionizing the gas. Therefore, we make use of the Gas Electron Multiplier (GEM), which the number of electron is multiplied without losing the information of electron distribution. And multiplied electron are detected by the underneath CMOS sensor without a CdTe layer. It is a fine pixelized electron reader with the usable area of 2.5×2.5cm^2. We detected the X-ray polarization from the Fe Kα, which energy was 6.4keV. But CMOS sensor breaks down for an electric discharge before measure the LHD plasmas. So, we could not carry out the measurements of LHD plasmas using X-ray polarimeter.

我们开发了一种X射线成像偏振计，用于在大型螺旋装置（LHD）上测量来自高温等离子体的X射线偏振。X射线偏振计是基于气体中的光电效应来检测X射线偏振的。为了追踪气体中的光电子轨迹，我们必须测量光电子电离气体所产生的电子分布，因此，我们使用气体电子倍增器（GEM），其电子数为倍增电子不会丢失电子分布的信息。并且倍增电子由没有CdTe层的底层CMOS传感器检测。它是一个可用面积为2.5×2.5cm^2的精细像素化电子读取器。 Fe Kα 的射线偏振，能量为 6.4keV，但 CMOS 传感器在测量 LHD 等离子体之前会因放电而损坏，因此我们无法使用 LHD 等离子体进行测量。 X射线旋光计。

项目成果

Edge and Core Impurity Transport Study with Spectroscopic Instruments in LHD

使用 LHD 中的光谱仪器进行边缘和核心杂质传输研究

• 发表时间: 2009
• 作者: S.Morita; M.Goto; M.Kobayashi; S.Muto; M.B.Chowdhuri; D.Chunfeng; Z.Hangyu; C.Zhengying;K.Fujii; A.Furuzawa; M.Hasuo; A.Iwamae; J.Yinxian; M.Koubiti; I.Sakurai; Y.Tawara; W.Baonian; W.Zhenwei; N.Yamaguchi
• 通讯作者: N.Yamaguchi

Edge and Core Impurity Transport Study with Spectroscopic Instruments in LHD

使用 LHD 中的光谱仪器进行边缘和核心杂质传输研究

• 发表时间: 2009
• 作者: Shigeru Morita