Local potential structure characterization of polar oxide interfaces by atomic-resolution electric field imaging STEM

通过原子分辨率电场成像 STEM 表征极性氧化物界面的局部电势结构

基本信息

批准号：
26289234
负责人：
Shibata Naoya
金额：
$ 10.32万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2014
资助国家：
日本
起止时间：
2014-04-01 至 2017-03-31
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-26289234/
关键词：
STEM セラミックス電場極性結晶界面極性界面ポテンシャル

项目摘要

项目成果

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专利数量（0）

先進電子顕微鏡法による材料界面解析の新展開

使用先进电子显微镜进行材料界面分析的新进展

DOI：
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
0
作者：
大池諒;中村崇司;徳島高;八代圭司;川田達也;雨澤浩史;柴田直哉
通讯作者：
柴田直哉

Development and application of new STEM detector

新型STEM探测器的研制及应用

DOI：
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
0
作者：
Zhang Yang;Xue Dezhen;Wu Haijun;Ding Xiangdong;Lookman Turab;X. Ren;N. Shibata
通讯作者：
N. Shibata

原子分解能STEMによる材料界面解析：最近の進展

使用原子分辨率 STEM 进行材料界面分析：最新进展

DOI：
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
0
作者：
Akira Saito;Kosei Ishibashi;Megumi Akai-Kasaya;Yuji Kuwahara;柴田直哉
通讯作者：
柴田直哉

原子を直接見る顕微鏡－最先端電子顕微鏡の世界－

直接观察原子的显微镜 - 尖端电子显微镜的世界 -

DOI：
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
0
作者：
Yoshinao Kai;Michitaka Ohtaki;齋藤彰;柴田直哉
通讯作者：
柴田直哉

先進走査透過型電子顕微鏡法の開発と材料界面研究

先进扫描透射电子显微镜和材料界面研究的发展

DOI：
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
0
作者：
M.Yanagisawa;M.Kunimoto and T.Homma;1．柴田直哉
通讯作者：
1．柴田直哉

DOI：
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作者：
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通讯作者：
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DOI：
发表时间：
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期刊：
影响因子：
0
作者：
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通过掺杂增强AlN的高温体积电阻率

DOI：
10.35848/1882-0786/ac851f
发表时间：
2022
期刊：
Applied Physics Express
影响因子：
2.3
作者：
Kato Daiki;Feng Bin;Noritake Yasunobu;Hishida Tomoko;Shibata Naoya;Ikuhara Yuichi
通讯作者：
Ikuhara Yuichi