Near-field Raman Spectroscopy with wavelength resolution

具有波长分辨率的近场拉曼光谱

• 批准号: 19710080
• 负责人: SAITO Yuika
• 金额: $ 2.31万
• 依托单位: Osaka University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2007
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2007 至 2008
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19710080/
• 关键词: ナノ構造化学; ラマン分光; 近接場顕微鏡; 偏光; 表面プラズモン; 近接場分光; ナノイメージング; 走査プローブ顕微鏡; ナノフォトニクス; 波数

近接場顕微鏡は光を用いて非破壊的に観測を行ないながら、光の波長よりも小さいナノメートルスケールの空間分解能で物質の形状を捉えることができる。この顕微鏡が光を用いているという利点を活かして、試料から多くの化学的情報を引き出すために、空間分解能のみならず波数分解能を高めた近接場ラマン顕微鏡を作製した。この顕微鏡を用いて種々の半導体材料のナノスケール評価を行なった。また近接場顕微鏡探針の入射光共鳴波長をコントロールする方法を同時に開発した。

近场显微镜利用光进行非破坏性观察，可以以纳米级空间分辨率（小于光的波长）捕捉材料的形状。利用该显微镜使用光的事实，我们创建了一种近场拉曼显微镜，不仅提高了空间分辨率，还提高了波数分辨率，以便从样品中提取大量化学信息。使用该显微镜，我们对各种半导体材料进行了纳米级评估。同时，我们还开发了一种控制近场显微镜尖端入射光共振波长的方法。

项目成果

Active Control of the Oxidization of a Silicon Cantilever for the Characterization of Silicon-based Semiconductors

主动控制硅悬臂梁的氧化以表征硅基半导体

• 发表时间: 2008
• 作者: Ono A; Masui K; Saito Y; Sakata T; Taguchi A; Motohashi M; Ichimura T; Ishitobi T; Tarun A; Hayazawa N; Verma P; Inouye Y; Kawata S
• 通讯作者: Kawata S

Near-Field Raman Analysis of Graphene Layers

石墨烯层的近场拉曼分析

• 发表时间: 2008
• 作者: Saito Y; Yasugi S; Masui K; Kawata S
• 通讯作者: Kawata S

z-polarization Sensitive Detection for Flexible Raman Polarizabiliti Measurements

z 偏振灵敏检测，用于灵活的拉曼偏振测量

• 发表时间: 2008
• 作者: Saito Y; Kobayashi M; Hiraga D; Fujita K; Kawata S
• 通讯作者: Kawata S

Imaging and Spectroscopy Through Plasmonic Nano-Probe

通过等离子体纳米探针进行成像和光谱分析

• 发表时间: 2009
• 作者: Saito Y; Verma P
• 通讯作者: Verma P

局在プラズモンを用いた近接場ラマンイメージング・可視光を使ってナノを見る

使用局域等离子体的近场拉曼成像/使用可见光观察纳米

• 发表时间: 2008
• 作者: 河田聡; 齊藤結花; 井上康志
• 通讯作者: 井上康志