IDENTIFICATION OF GOVERNING PARAMETER AND RELIABILITY EVALUATION FOR CARBON-NANOTUBE DAMAGE UNDER HI-DENSITY ELECTRONIC CURRENT

高密度电流下碳纳米管损伤控制参数识别及可靠性评估

基本信息

  • 批准号：
    25420002
  • 负责人：
    SASAGAWA Kazuhiko
  • 金额：
    $ 3.33万
  • 依托单位：
    Hirosaki University
  • 依托单位国家：
    日本
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份：
    2013
  • 资助国家：
    日本
  • 起止时间：
    2013-04-01 至 2016-03-31
  • 项目状态：
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（0）
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会议论文数量（0）
专利数量（0）
電子デバイス配線CNTの強度信頼性評価法の構築
电子器件布线碳纳米管强度可靠性评价方法的构建
  • DOI：
  • 发表时间：
    2014
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    石橋正晃;藤本岳洋;松山靖典;中川智貴，細井厚志，巨陽;笹川　和彦
  • 通讯作者：
    笹川　和彦
Numerical Analysis of Allowable Current Density for Electromigration of Interconnect Tree Structure with Reservoir
带储层互连树结构电迁移允许电流密度的数值分析
Damage of CNT Network Structure under Accelerated Condition
加速条件下碳纳米管网络结构的破坏
  • DOI：
  • 发表时间：
    2015
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    S. Sato;K. Fujisaki;K. Sasagawa;T. Katabira
  • 通讯作者：
    T. Katabira
CNTネットワーク構造を有する配線の高密度電流下における損傷
高密度电流下CNT网络结构布线损坏
  • DOI：
  • 发表时间：
    2014
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    石川貴大;小椋隆寛;藤本岳洋;藤崎和弘，成田大輝，笹川和彦
  • 通讯作者：
    藤崎和弘，成田大輝，笹川和彦
マイクロ波原子間力顕微鏡を用いた金属ナノワイヤの導電率の定量評価に関する研究
微波原子力显微镜定量评价金属纳米线电导率的研究
  • DOI：
  • 发表时间：
    2013
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    近藤俊之;今岡貴裕;平方寛之;﨑原雅之;箕島弘二;Nobuaki Komatsubara and Etsuji Ohmura;森　崇充;中島　隆博，細井　厚志，巨　陽
  • 通讯作者：
    中島　隆博，細井　厚志，巨　陽
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  • 发表时间：
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  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    OSANAI Keita;FUJISAKI Kazuhiro;OTA Fuki;SASAGAWA Kazuhiko;MORIWAKI Takeshi;漆山　凌・松岡　篤
  • 通讯作者：
    漆山　凌・松岡　篤
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  • 发表时间：
    2022
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    OSANAI Keita;FUJISAKI Kazuhiro;OTA Fuki;SASAGAWA Kazuhiko;MORIWAKI Takeshi;漆山　凌・松岡　篤;伊藤　剛・松岡　篤;川尻啄真・伊藤　剛・松岡　篤
  • 通讯作者：
    川尻啄真・伊藤　剛・松岡　篤

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    2003
  • 资助金额：
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    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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    11555024
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    22H01349
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    2022
  • 资助金额：
    $ 3.33万
  • 项目类别：
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