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Study of the ground state of 4f electrons near a quantum critical point by means of "soft x-ray absorption spectroscopy" under pressure
利用压力下“软X射线吸收光谱”研究量子临界点附近4f电子的基态
基本信息
- 批准号：22654042
- 负责人：
- 金额：$ 1.86万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
- 财政年份：2010
- 资助国家：日本
- 起止时间：2010 至 2011
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
X-ray absorption spectroscopy(XAS) at M and N edges is a powerful tool that can detect valency, spatial symmetry and hybridization of 4f electrons. However, this technique is not applicable for measurements under pressure, because of short penetration depth of soft x-rays. X-ray Raman spectroscopy(XRS) is an alternative method to obtain XAS spectra using hard x-rays. We therefore carried out feasibility study of XRS and confirmed that XRS is a potential tool for observing the electronic ground states of f-electrons under pressure. At the same time, however, we found that XRS is not perfectly equivalent to XAS and this result points out that particular care must be taken for the interpretation of XRS data.
M和N边缘处的X射线吸收光谱（XAS）是一种强大的工具，可以检测4F电子的价值，空间对称性和杂交。但是，由于软X射线的穿透深度短，因此该技术不适用于在压力下进行测量。 X射线拉曼光谱（XRS）是使用硬X射线获得XAS光谱的替代方法。因此，我们对XRS进行了可行性研究，并确认XRS是在压力下观察F-电子的电子接地态的潜在工具。但是，与此同时，我们发现XRS并不完全等于XAS，该结果指出，必须特别注意XRS数据的解释。
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
X線ラマン散乱法によるEuPd_2Si_2の価数転移の研究
X射线拉曼散射法研究EuPd_2Si_2的价态跃迁
- DOI：
- 发表时间：2011
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：R. Toda;W. Onoe;M. Kanemoto;T. Kakuda;Y. Tanaka;and Y. Sasaki;山口晃史;稲見俊哉;稲見俊哉
- 通讯作者：稲見俊哉
X線ラマン散乱法によるEuPd2Si2の価数転移の研究(II)
X射线拉曼散射法研究EuPd2Si2的价态跃迁（二）
- DOI：
- 发表时间：2012
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：R. Toda;W. Onoe;M. Kanemoto;T. Kakuda;Y. Tanaka;and Y. Sasaki;山口晃史;稲見俊哉
- 通讯作者：稲見俊哉
X-ray Raman scattering experiment on the valence transition of EuPd_2Si_2
EuPd_2Si_2价态跃迁的X射线拉曼散射实验
- DOI：
- 发表时间：2011
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：R. Toda;W. Onoe;M. Kanemoto;T. Kakuda;Y. Tanaka;and Y. Sasaki;山口晃史;稲見俊哉;稲見俊哉;稲見俊哉;稲見俊哉
- 通讯作者：稲見俊哉
X-ray Raman scattering experiment on the valence transition of EuPd2Si2
EuPd2Si2价态跃迁的X射线拉曼散射实验
- DOI：
- 发表时间：2011
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：R. Toda;W. Onoe;M. Kanemoto;T. Kakuda;Y. Tanaka;and Y. Sasaki;山口晃史;稲見俊哉;稲見俊哉;稲見俊哉
- 通讯作者：稲見俊哉
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