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Self-Calibration, Testing, Diagnosis and Repairing Techniques ofNano-CMOS Analog Circuits
纳米CMOS模拟电路的自校准、测试、诊断和修复技术
基本信息
- 批准号：22560319
- 负责人：
- 金额：$ 2.33万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份：2010
- 资助国家：日本
- 起止时间：2010 至 2012
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
Several techniques for self-calibration, testing, diagnosis and repairing have been developed and verified for analog/mixed-signal integrated circuits (such as pipelined ADC, cyclic ADC, SAR ADC, interleaved ADC, Time-to-Digital converter circuits) with nano-CMOS technology.
已经开发并验证了几种用于自我校准，测试，诊断和修复的技术，用于用于模拟/混合信号集成电路（例如管道的ADC，Cyclic ADC，SAR ADC，SAR ADC，交织ADC，交错的ADC，数字化转换器电路）与Nano-Comos Technology）。
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
ＤＡ変換器のＶＣＯを用いた自己校正技術の検討
DA转换器VCO自校准技术研究
- DOI：
- 发表时间：2013
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：D. Oshima;T. Kato;S. Iwata;S. Tsunashima;佐藤僚祐,大河正志,佐藤孝;荒川雄太
- 通讯作者：荒川雄太
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- DOI：
- 发表时间：2011
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：K.Asami;T.Tateiwa;T.Kurosawa;H.Miyajima;H.Kobayashi
- 通讯作者：H.Kobayashi
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- DOI：
- 发表时间：2011
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：T.Yagi;H.Kobayashi;他5名
- 通讯作者：他5名
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- DOI：
- 发表时间：2013
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Dai;T. Kato;S. Iwata;S. Tsunashima;村上正紘
- 通讯作者：村上正紘
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- 影响因子：0
- 作者：
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- 作者：
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Yuko Fujigaki
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