The electron-phonon interaction resulting surface modification triggered by the low-energy highly-charged-ion

低能高电荷离子引发的电子-声子相互作用导致表面改性

基本信息

  • 批准号:
    21510108
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2009
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2009 至 2011
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

The low-energy highly charged ion(HCI) produces hillocks on a solid surface, which are mesa-like protrusions as the result of electronic excitation due to HCI. Our aim has been to make it clear how generally the electron-phonon interaction can explain the formation mechanism, for a wide range of target materials. The first step of synergetic reaction of target atoms may be to form the fast phonon, which is already known in semimetal and semiconductor. This is the optical phonon where intraplane motion of atoms is characteristic. The second step is the acoustic phonon caused by the entering HCI. These two types of successive phonons may produce the hillocks by a low-energy HCI, at least in the case of a semimetal.
低能充电的离子(HCI)在固体表面上产生丘陵,由于HCI引起电子激发,因此是台面样的突起。我们的目的是清楚地表明,对于广泛的目标材料,电子 - 光子相互作用通常可以解释形成机制。靶原子协同反应的第一步可能是形成快速声子,快速声子在半学和半导体中已经知道。这是光学声子,其中原子的内平方运动是特征的。第二步是由输入HCI引起的声音声子。至少在半准的情况下,这两种类型的连续声子可能会通过低能HCI产生丘陵。

项目成果

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专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Lithography with MeV energy ions for biomedical applications : accelera-tor considerations
用于生物医学应用的 MeV 能量离子光刻:加速器注意事项
  • DOI:
    10.1063/1.3120033
  • 发表时间:
    2009
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    S. Sangyuenyongpipat;H. J. Whitlow;S. T. Nakagawa;and E. Yoshida
  • 通讯作者:
    and E. Yoshida
分子結合ビームによる複合欠陥生成のMDシミュレーション(2)(口頭)
分子键合束产生复杂缺陷的MD模拟(二)(口语)
  • DOI:
  • 发表时间:
    2009
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    堺達也;中川幸子
  • 通讯作者:
    中川幸子
低エネルギー高電離イオンによる表面ヒロック形成機構の解明
低能高电离离子阐明表面小丘形成机制
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    中川幸子;H.J.Whitlow;G.Betz
  • 通讯作者:
    G.Betz
分子ビームの固体内原子衝突(II)
固体中分子束的原子碰撞(二)
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    長尾初季;神田;Betz;中川幸子
  • 通讯作者:
    中川幸子
分子動力学法による電子的阻止能:結晶性の効果(口頭)
分子动力学方法的电子阻止能力:结晶度的影响(口服)
  • DOI:
  • 发表时间:
    2009
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    酒井裕也;中川幸子
  • 通讯作者:
    中川幸子
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