非破壊検査情報を援用したプラントの安全性評価システムの開発

利用无损检测信息开发工厂安全评估系统

• 批准号: 06F06378
• 负责人: 渡邊 勝彦
• 金额: $ 1.47万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for JSPS Fellows
• 财政年份: 2006
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2006 至 2008
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-06F06378/
• 关键词: Creep crack; Nondestructive information; CED; Micro cavity; Ultrasound examination; Damage tolerance parameter; Monkman-Grant ductility time; クリープ; クリープき裂速度; Cavity; 面積率; 劣化速度; 破壊寿命

本研究は、高温クリープ現象を対象に、非破壊検査情報と力学的知兇を融合して、プラントの安全性・構造健全性を評価するシステムを開発しようとするものであり、これまでに以下のような成果を得た。1.韓国で行われた発電用高温設備で用いられるP92,P122鋼のクリープ破壊試験のデータを再整理することにより、定常、非定常にかかわらず、CEI)によりき裂挙動が一貫して衰現されることを示した。2.高温・高圧の下における破壊は、マイクロ欠陥の生成から始まるといえる。P92,P122鋼につき、マイクロ欠陥の生成、成長を観察し、それらの程度と機械的性質(ひずみ速度、変位速度、き裂成長速度、破断寿命等)として観察される量との関係付けを行った。これを活用することにより、超音波試験により得られるマイクロ欠陥に関する情報より、き裂成長速度と残存寿命の評価が可能となると思われる。3.損傷許容パラメータ(damage tolerance parameter)λを導入してMonkman-Grantの式を拡張して得られる関係の寿命予測への適用性を、P92,P122鋼について損傷の微視構造と対応させて検討し、微視構造も考慮に入れた評価が必要であることを明らかにした。また Monkman-Grant ductility time t_<MGD>による第3期クリープの特姓を確認した。以上のように、通常の試験で得られる機械的特性とマイクロ欠陥の発生・成長状態とを結び付けて初くための基本的準備が整ったと思われるので、さらに非破壊検査を遡じて得られるマイクロ欠陥の発生・成長状態も活用した、より正確な安全性・構造健全性評価システムの開発を遊めていく。

这项研究旨在开发一种系统，通过将非破坏性测试信息与机械智能相结合，靶向高温蠕变现象，从而评估植物安全性和结构完整性，并在迄今为止取得了以下结果。 1.对韩国高温发电设备中P92和P122钢的蠕变断裂测试的数据进行纠正，我们已经表明，由于CEI的裂纹行为始终衰减，无论它是稳定还是不确定性。 2。可以说在高温和压力下的断裂始于微缺陷的形成。对于p92和p122钢，观察到微缺陷的形成和生长，其缺陷程度与观察到的机械性能（应变速度，位移速度，裂纹速度，裂纹生长速度，分裂寿命等）相关。通过利用这一点，可以认为可以使用超声测试获得的微缺陷信息来评估裂纹生长速率和剩余寿命。 3。通过引入损伤耐受参数λ来扩展Monkman Grant方程的适用性，并与P92和P122钢的损伤微观结构一起研究，并且揭示了考虑到微结构的评估。我们还通过Monkman-Grant延展性时间T_ <mgd>确认了第三学期蠕变的特殊姓氏。如上所述，似乎已经做出了基本的准备工作，首先将正常测试中获得的机械性能与微缺陷的发生和生长状态相结合，因此我们还将探索通过非破坏性测试获得的微型陷入的出现和生长状态的更准确的安全性和结构完整性评估系统的开发。

项目成果

Creep rupture life and variation of micro-structure according to aging time and creep test methods

根据老化时间和蠕变测试方法的蠕变断裂寿命和微观结构变化

• 发表时间: 2007
• 期刊: Materials science and engineering A 449-451
• 作者: Chan-Seo Jeong;Si-Yeon Bae;Dong-Hyun Ki;Katsuhiko Watanabe;Byeong-Soo Lim
• 通讯作者: Byeong-Soo Lim

The fracture life evaluation using micro defect in high temperature and high pressure environment

高温高压环境下微缺陷断裂寿命评估

• 发表时间: 2008
• 作者: Xuan-Hieu Phan;Le-Minh Nguyen;and Susumu Horiguchi;鄭 燦西
• 通讯作者: 鄭 燦西