陽子非弾性散乱を用いた^<14>Be核における魔法数の破れに関する研究

利用非弹性质子散射研究^<14>Be核中的幻数违规

• 批准号: 05J08371
• 负责人: 近藤 洋介
• 金额: $ 1.15万
• 依托单位: Tokyo Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for JSPS Fellows
• 财政年份: 2005
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2005 至 2006
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-05J08371/
• 关键词: 不安定核; 中性子過剰核; 非弾性散乱; 魔法数

初年度目に引き続き、中性子ドリップライン^<14>Be核の陽子非弾性散乱実験のデータ解析を進めた。観測された第一2^+準位の非弾性散乱の散乱角度分布をDWBA解析することにより変形長を求めたところ1.40(19)fmという値が得られた。この値は過去に炭素標的を用いて得られた変形長の値1.18(13)fmと同様に、^<12>Beに比べて小さな値であることがわかった。さらに陽子標的を用いて得られた値と、炭素標的を用いて得られた値を組み合わせて^<14>Be核中での陽子・中性子側の変形を推定したところ、^<14>Beでは^<10>Beに比べて陽子側の変形が小さく、中性子側の変形は^<12>Beと同程度に大きいことがわかった。得られた結果を殻模型計算と比較したところ、通常使用されている有効電荷の値を用いた場合には^<14>Beの陽子側の変形を再現することができず、有効電荷の減少を示唆する結果であることがわかった。また実験データに含まれている^<14>Beの一中性子ノックアウト過程の反応チャンネルについても解析を行い、非束縛核^<13>Beの分光を行った。その結果、これまで知られていなかった13Beの基底状態1/2^-準位を中性子崩壊の閾値より0.45MeV上に観測した。この1/2^-準位が低いエネルギーに観測されたことは、安定核領域で存在していたsd軌道とp軌道のエネルギーギャップが^<13>Beにおいては無くなった事を示しており、^<12>Beにおける魔法数の消失の原因と考えられる殻構造の変化がより中性子過剰な領域でも確認された。以上の結果は3月末に首都大学東京南大沢キャンパスで行われた日本物理学会春季大会において成果発表を行った。

在第一年之后，进行了中子滴水液的质子非弹性散射实验 ^<14>的数据分析。通过DWBA分析确定了第一个2^+水平的观察到的散射角的散射角分布以获得变形长度，从而导致值为1.40（19）FM。发现该值小于 ^<12> BE，类似于过去使用碳靶的1.18（13）FM的变形长度值。此外，通过将使用质子目标获得的值与使用碳靶的值相结合，我们估计了 ^<14>中质子中的侧面的变形，并且发现质子侧的变形较小，对于 ^<10>而言，质量较小，与 ^<10> Be进行了比较，并且在 ^<10>上是 ^<12 <12。当将获得的结果与壳模型计算进行比较时，发现当使用正常有效电荷值时，无法再现 ^<14>的质子侧的变形，这表明有效电荷会减少。此外，还分析了 ^<14>的单中子敲除过程中的反应通道，还分析了实验数据中的反应通道，并将未结合的核 ^<13>分析。结果，在中子衰减阈值上方观察到了先前未知的基态1/2^级别的13BE。对此1/2 ^级的观察表明，稳定核区域中存在的SD和P轨道之间的能量差距消失在 ^<13> Be中，而壳结构的变化也被认为是 ^<12> BE中魔术数量消失的原因，在 ^<12> Be中也被证实，在具有更多中子的区域中也得到了证实。上述结果的结果是在3月底在东京大都会大学Minami-Osawa校园举行的日本春季会议上提出的。

项目成果

Invariant-mass spectroscopy of 13Be and 14Be

13Be 和 14Be 的不变质谱

• 发表时间: 2007
• 期刊: RIKEN Accelerator Progress Report 2006 40(掲載决定)
• 作者: Ohtsuka;R.;N.Sudo;M.Sekiyama;C.Watanabe etc.;Y.Kondo et al.
• 通讯作者: Y.Kondo et al.

Inelastic proton scattering of 14Be

14Be 的非弹性质子散射

• 发表时间: 2006
• 期刊: RIKEN Accelerator Progress Report 2005 39(未定)
• 作者: Ohtsuka;R.;N.Sudo;M.Sekiyama;C.Watanabe etc.;Y.Kondo et al.;Z.Elekes et al.;Z.Elekes et al.;T.Nakamura et al.;Y.Kondo et al.
• 通讯作者: Y.Kondo et al.