陽子非弾性散乱を用いた^<14>Be核における魔法数の破れに関する研究

利用非弹性质子散射研究^<14>Be核中的幻数违规

• 批准号: 05J08371
• 负责人: 近藤 洋介
• 金额: $ 1.15万
• 依托单位: Tokyo Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for JSPS Fellows
• 财政年份: 2005
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2005 至 2006
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-05J08371/
• 关键词: 不安定核; 中性子過剰核; 非弾性散乱; 魔法数

初年度目に引き続き、中性子ドリップライン^<14>Be核の陽子非弾性散乱実験のデータ解析を進めた。観測された第一2^+準位の非弾性散乱の散乱角度分布をDWBA解析することにより変形長を求めたところ1.40(19)fmという値が得られた。この値は過去に炭素標的を用いて得られた変形長の値1.18(13)fmと同様に、^<12>Beに比べて小さな値であることがわかった。さらに陽子標的を用いて得られた値と、炭素標的を用いて得られた値を組み合わせて^<14>Be核中での陽子・中性子側の変形を推定したところ、^<14>Beでは^<10>Beに比べて陽子側の変形が小さく、中性子側の変形は^<12>Beと同程度に大きいことがわかった。得られた結果を殻模型計算と比較したところ、通常使用されている有効電荷の値を用いた場合には^<14>Beの陽子側の変形を再現することができず、有効電荷の減少を示唆する結果であることがわかった。また実験データに含まれている^<14>Beの一中性子ノックアウト過程の反応チャンネルについても解析を行い、非束縛核^<13>Beの分光を行った。その結果、これまで知られていなかった13Beの基底状態1/2^-準位を中性子崩壊の閾値より0.45MeV上に観測した。この1/2^-準位が低いエネルギーに観測されたことは、安定核領域で存在していたsd軌道とp軌道のエネルギーギャップが^<13>Beにおいては無くなった事を示しており、^<12>Beにおける魔法数の消失の原因と考えられる殻構造の変化がより中性子過剰な領域でも確認された。以上の結果は3月末に首都大学東京南大沢キャンパスで行われた日本物理学会春季大会において成果発表を行った。

从第一年开始，我们继续进行中子滴线^<14>Be核质子非弹性散射实验的数据分析。通过对观察到的第一个2^+能级的非弹性散射的散射角分布进行DWBA分析来确定变形长度，得到的值为1.40(19)fm。发现该值与^ 12 Be相比较小，类似于过去使用碳靶获得的变形长度值1.18(13)fm。此外，我们通过结合使用质子靶获得的值和使用碳靶获得的值来估计^<14>Be核中质子和中子的变形，发现在^<14>Be核中质子和中子的变形发现质子侧的变形比^<10>Be小，中子侧的变形与^<12>Be一样大。当我们将获得的结果与壳模型计算进行比较时，我们发现^<14>Be质子侧的变形无法使用常用的有效电荷值来再现，并且有效电荷下降。结果表明。那我们还分析了实验数据中^<14>Be单中子敲除过程的反应通道，并对未结合核^<13>Be进行了光谱分析。结果，我们在中子衰变阈值以上 0.45 MeV 处观察到了先前未知的 13Be 基态 1/2^- 能级。在低能量下观察到这个1/2^-能级的事实表明稳定核区中存在的sd轨道和p轨道之间的能隙在^<13>Be壳层结构中消失。被认为是^<12>Be中幻数消失的原因，在富中子区也得到了证实。上述结果于3月底在东京都立大学南大泽校区举行的日本物理学会春季会议上发表。

项目成果

Invariant-mass spectroscopy of 13Be and 14Be

13Be 和 14Be 的不变质谱

• 发表时间: 2007
• 期刊: RIKEN Accelerator Progress Report 2006 40(掲載决定)
• 作者: Ohtsuka;R.;N.Sudo;M.Sekiyama;C.Watanabe etc.;Y.Kondo et al.
• 通讯作者: Y.Kondo et al.

Inelastic proton scattering of 14Be

14Be 的非弹性质子散射

• 发表时间: 2006
• 期刊: RIKEN Accelerator Progress Report 2005 39(未定)
• 作者: Ohtsuka;R.;N.Sudo;M.Sekiyama;C.Watanabe etc.;Y.Kondo et al.;Z.Elekes et al.;Z.Elekes et al.;T.Nakamura et al.;Y.Kondo et al.
• 通讯作者: Y.Kondo et al.