半導体表面に化学吸着した原子・分子による電子の共鳴散乱

半导体表面化学吸附的原子和分子对电子的共振散射

• 批准号: 10875005
• 负责人: 西嶋 光昭
• 金额: $ 1.22万
• 依托单位: Kyoto University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Exploratory Research
• 财政年份: 1998
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1998 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-10875005/
• 关键词: 化学吸着; EELS; 共鳴散乱

Schulzらの研究でよく知られているように、気体分子の場合、電子を照射すると電子が一時的に分子に捕獲された後、非弾性散乱されるという,いわゆる負イオン共鳴散乱機構がある。共鳴散乱は電子のイオン・コアによる短距離相互作用による散乱であるが、特に電子の交換一相関相互作用のからんだ散乱である。研究代表者は半導体表面に化学吸着した原子・分子の場合について、共鳴散乱の可能性を検討した。用いた装置は高分子解能電子エネルギー損失分光(EELLS)であり、用いた試料はCO/Si(100)、CO/K/Si(100)、(H+OH)/Si(111)である。OH/Si(111)については共鳴散乱の観測に成功した。他の系では共鳴散乱は観測されなかった。強く化学吸着しているため、形状共鳴状態ができないためである。

正如Schulz等人在研究中众所周知的那样，对于气体分子，存在一种所谓的负离子共振散射机制，当用电子辐照并不弹散射时，分子暂时捕获电子。共振散射是由于电子的离子核的短距离相互作用而散射，但尤其是由于电子的交易所相关相互作用而引起的散射。研究人员研究了在半导体表面化学吸附的原子和分子化学吸附剂的情况下，共振散射的可能性。所使用的设备是聚合分辨率电子损失光谱（EELL），所使用的样品为CO/SI（100），CO/K/Si（100）和（H+OH）/SI（111）。观察到OH/SI（111）的共振散射。在其他系统中未观察到共振散射。这是因为产品被强烈化学吸附，无法实现形状共振。