High performance and controlling optical polarization for unpolar optical devices using hetero middle layer
使用异质中间层的非极性光学器件的高性能和控制光学偏振
基本信息
- 批准号:16K17514
- 负责人:
- 金额:$ 2.66万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- 财政年份:2016
- 资助国家:日本
- 起止时间:2016-04-01 至 2019-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(12)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
緩和した厚膜InGaNの成長とその評価 3
弛豫厚膜InGaN的生长及其评价3
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:猪股 祐貴;河村 澪;中島 慎太郎;板倉 秀之;藤本 怜;池内 裕紀;岡田 成仁;只友 一行
- 通讯作者:只友 一行
Fabrication and evaluation of multiple-quantum wells on high-quality relaxed InGaN template fabricated by combination of ELO and CMP
ELO 和 CMP 相结合的高质量松弛 InGaN 模板上多量子阱的制作和评估
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Yuki Inomata;Hideyuki Itajura;Satoru Fujimoto;Narihito Okada;and Kazuyuki Tadatomo
- 通讯作者:and Kazuyuki Tadatomo
半極性InGaN/GaN量子井戸の表面プラズモン共鳴による発光増強
半极性 InGaN/GaN 量子阱的表面等离子体共振发射增强
- DOI:
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:亀谷 純;中村 俊樹;村尾 文弥;松山 哲也;和田 健司;岡田 成仁;只友 一行;岡本 晃一
- 通讯作者:岡本 晃一
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Okada Narihito其他文献
Identification of fine structures at the surface of epi-ready GaN wafer observed by confocal differential interference contrast microscopy
通过共焦微分干涉显微镜观察外延就绪 GaN 晶圆表面精细结构的识别
- DOI:
10.35848/1347-4065/abbb23 - 发表时间:
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- 影响因子:1.5
- 作者:
Ishikawa Yukari;Sugawara Yoshihiro;Sato Koji;Yao Yongzhao;Okada Narihito;Tadatomo Kazuyuki - 通讯作者:
Tadatomo Kazuyuki
Surface plasmon enhanced emissions from semipolar InGaN/GaN quantum wells
半极性 InGaN/GaN 量子阱的表面等离子体增强发射
- DOI:
- 发表时间:
2019 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
Jun Kametani;Toshiki Nakamura;Fumiya Murao;Tetsuya Matsuyama;Kenji Wada;Okada Narihito;Tadatomo Kazuyuki;Koichi Okamoto - 通讯作者:
Koichi Okamoto
Anisotropic radius of curvature of crystal planes in wide-bandgap semiconductor wafers measured by X-ray diffraction
X射线衍射测量宽带隙半导体晶片晶面各向异性曲率半径
- DOI:
10.35848/1347-4065/ac3a20 - 发表时间:
2021 - 期刊:
- 影响因子:1.5
- 作者:
Yao Yongzhao;Sugawara Yoshihiro;Yokoe Daisaku;Hirano Keiichi;Okada Narihito;Tadatomo Kazuyuki;Sasaki Kohei;Kuramata Akito;Ishikawa Yukari - 通讯作者:
Ishikawa Yukari
Growth of GaN and improvement of lattice curvature using symmetric hexagonal SiO2 patterns in HVPE growth
在 HVPE 生长中使用对称六方 SiO2 图案生长 GaN 并改善晶格曲率
- DOI:
10.7567/1347-4065/ab1125 - 发表时间:
2019 - 期刊:
- 影响因子:1.5
- 作者:
Fujimoto Satoru;Itakura Hideyuki;Tanikawa Tomoyuki;Okada Narihito;Tadatomo Kazuyuki - 通讯作者:
Tadatomo Kazuyuki
Okada Narihito的其他文献
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$ 2.66万 - 项目类别:
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