Study of the aggregation reaction mechanism for complex vacancy defects in GaN

GaN复杂空位缺陷聚集反应机理研究

基本信息

  • 批准号:
    23K04602
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2023
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2023-04-01 至 2027-03-31
  • 项目状态:
    未结题

项目摘要

项目成果

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小田 将人其他文献

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  • 发表时间:
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(ZnO)x(InN)1-x混晶半导体的电子态理论
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  • 发表时间:
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  • 通讯作者:
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  • DOI:
  • 发表时间:
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  • 影响因子:
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  • 作者:
    古木 凌太;小田 将人;篠塚 雄三;篠塚 雄三
  • 通讯作者:
    篠塚 雄三
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多边形结构对陶瓷体表面电子态的影响
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  • 发表时间:
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  • 期刊:
  • 影响因子:
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  • 通讯作者:
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