Investigation of Hydrogen Bond by Bias Noncontact Atomic Force Microscopy/Spectroscopy

通过偏压非接触原子力显微镜/光谱研究氢键

• 批准号: 26600098
• 负责人: ARAI Toyoko
• 金额: $ 2.5万
• 依托单位: Kanazawa University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
• 财政年份: 2014
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2014-04-01 至 2016-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-26600098/
• 关键词: 走査型プローブ顕微鏡; 水素結合

项目成果

チャージアンプを備えたnc-AFMによる表面電子状態解析

使用配备电荷放大器的 nc-AFM 进行表面电子态分析

• 发表时间: 2016
• 作者: 野上 真;新井 豊子;笹原 亮;富取 正彦
• 通讯作者: 富取 正彦

Dissipation decrease in a proximity region enhanced with a hydrogen-terminated Si tip in non-contact atomic force microscopy

非接触式原子力显微镜中氢封端硅尖端增强了邻近区域的耗散降低

• 发表时间: 2015
• 作者: R. Inamura;M. Tomitori;T. Arai
• 通讯作者: T. Arai

非接触原子間力顕微鏡/力分光による微量NH3を反応させたSi(111)-7x7 表面の電子状態解析

使用非接触原子力显微镜/力谱分析与微量 NH3 反应的 Si(111)-7x7 表面的电子结构

• 发表时间: 2014
• 作者: 坂野 友樹;富取 正彦;新井 豊子
• 通讯作者: 新井 豊子

NC-AFMに組込んだチャージアンプの出力解析

NC-AFM 内置电荷放大器的输出分析

• 发表时间: 2014
• 作者: 永島一樹;富取 正彦;新井 豊子;野上 真，新井 豊子，笹原 亮，富取 正彦
• 通讯作者: 野上 真，新井 豊子，笹原 亮，富取 正彦

Atomic-scale electric capacitive change detected with a charge amplifier installed in a non-contact atomic force microscope

使用安装在非接触式原子力显微镜中的电荷放大器检测原子尺度的电容变化

• DOI: 10.7567/apex.9.046601
• 发表时间: 2016
• 期刊: Applied Physics Express
• 影响因子: 2.3
• 作者: Makoto Nogami;Akira Sasahara;Toyoko Arai;Masahiko Tomitori
• 通讯作者: Masahiko Tomitori