Energy Window Muography for Fast Infrastructure Exploration
用于快速基础设施探索的能量窗口 Muography
基本信息
- 批准号:19K12629
- 负责人:
- 金额:$ 2.75万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份:2019
- 资助国家:日本
- 起止时间:2019-04-01 至 2022-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(6)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
3Dプリンタを用いた熱中性子計測ようプラスチックシンチレータの開発
使用 3D 打印机开发用于热中子测量的塑料闪烁体
- DOI:
- 发表时间:2020
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:新城優治;金 政浩;納冨昭弘
- 通讯作者:納冨昭弘
Muography system combined with Cherenkov detector for energy window and muon-electron identification (Mu-SCHEME)
Mu 成像系统与切伦科夫探测器相结合,用于能量窗口和 μ 子电子识别(Mu-SCHEME)
- DOI:
- 发表时间:2021
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Naoya Okamoto; Tadahiro Kin; Wataru Sekiguchi
- 通讯作者:Wataru Sekiguchi
チェレンコフ検出器を用いた低エネルギーミュオン弁別手法
使用切伦科夫探测器的低能μ子辨别方法
- DOI:
- 发表时间:2020
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:岡本直哉;金 政浩;佐藤光流;小森智博;寳来 悠
- 通讯作者:寳来 悠
3Dプリンタを用いた熱中性子計測ようプラスチックシンチレータの開発
使用 3D 打印机开发用于热中子测量的塑料闪烁体
- DOI:
- 发表时间:2020
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:新城優治;金 政浩;納冨昭弘
- 通讯作者:納冨昭弘
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Kin Tadahiro其他文献
Measurement and Mechanism Investigation of Negative and Positive Muon-Induced Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
65 nm Bulk SRAM 中负、正 μ 介子引起的扰动的测量和机制研究
- DOI:
10.1109/tns.2018.2825469 - 发表时间:
2018 - 期刊:
- 影响因子:1.8
- 作者:
Liao Wang;Hashimoto Masanori;Manabe Seiya;Watanabe Yukinobu;Abe Shin;Nakano Keita;Sato Hikaru;Kin Tadahiro;Hamada Koji;Tampo Motonobu;Miyake Yasuhiro - 通讯作者:
Miyake Yasuhiro
Negative and Positive Muon-Induced Single Event Upsets in 65-nm UTBB SOI SRAMs
65 nm UTBB SOI SRAM 中负和正 μ 介子引起的单粒子扰动
- DOI:
10.1109/tns.2018.2839704 - 发表时间:
2018 - 期刊:
- 影响因子:1.8
- 作者:
Manabe Seiya;Watanabe Yukinobu;Liao Wang;Hashimoto Masanori;Nakano Keita;Sato Hikaru;Kin Tadahiro;Abe Shin;Hamada Koji;Tampo Motonobu;Miyake Yasuhiro - 通讯作者:
Miyake Yasuhiro
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