Nondestructive Measurement Method for Depth Profile of Nonlinear Dielectric Properties and Domain Structure in Piezoelectric Devices

压电器件非线性介电特性和畴结构深度剖面的无损测量方法

• 批准号: 18K04950
• 负责人: ODAGAWA HIROYUKI
• 金额: $ 2.83万
• 依托单位: National Institute of Technology, Kumamoto College
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2018
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2018-04-01 至 2021-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18K04950/
• 关键词: 走査型非線形誘電率顕微法; 圧電体; 分極反転; ドメイン計測; 動的ドメイン計測

项目成果

Measurement of Polarization-Inverted Structure in Layered Piezoelectric Material Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

使用扫描非线性介电显微镜测量层状压电材料中的极化反转结构

• 发表时间: 2018
• 作者: Hiroyuki Odagawa;Yohei Tanaka and Yasuo Cho
• 通讯作者: Yohei Tanaka and Yasuo Cho

Nondestructive Measurements of Double-Layered Piezoelectric Polarity-Inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

使用扫描非线性介电显微镜无损测量双层压电极性反转结构

• 发表时间: 2018
• 作者: Hiroyuki Odagawa;Yohei Tanaka;Yasuo Cho
• 通讯作者: Yasuo Cho

Measurement Method of Depth Profile in Polarity-Inverted Layered Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Soft Probe tip

软探针扫描非线性介电显微镜测量极性反转层状结构深度剖面的方法

• 发表时间: 2018
• 作者: Hiroyuki Odagawa;Yohei Tanaka;Yasuo Cho
• 通讯作者: Yasuo Cho

Application of Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for various piezoelectric domain measurement

扫描非线性介电显微镜在各种压电域测量中的应用

• 发表时间: 2020
• 作者: T. Yokoyama;N. Hirata;H. Tsunoyama;T. Eguchi;Y. Negishi;A. Nakajima;Hiroyuki Odagawa
• 通讯作者: Hiroyuki Odagawa

Application of scanning nonlinear dielectric microscopy for various piezoelectric domain structure measurement

扫描非线性介电显微镜在各种压电畴结构测量中的应用

• 发表时间: 2020
• 作者: Yukawa R.;Minohara M.;Shiga D.;Kitamura M.;Mitsuhashi T.;Kobayashi M.;Horiba K.;Kumigashira H.;湯本匠，中島達也，赤岩和明，阿部友紀，市野邦男;江上喜幸，工藤聖浩;Hiroyuki Odagawa
• 通讯作者: Hiroyuki Odagawa