Heterojunction formation of conductive diamond and GaN, Ga2O3 for vertical device applications

用于垂直器件应用的导电金刚石和 GaN、Ga2O3 异质结形成

基本信息

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n+-Si/p-ダイヤモンドヘテロ接合ダイオードの作製と電気特性評価
n+-Si/p-金刚石异质结二极管的制备及电性能评估
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    上東 洋太;大曲 新矢;梅沢 仁;山田 英明;梁 剣波;重川 直輝
  • 通讯作者:
    重川 直輝
ラマン分光スペクトルデータ解析事例集
拉曼光谱光谱数据分析实例汇总
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    梁 剣波(担当:第7章3節)
  • 通讯作者:
    梁 剣波(担当:第7章3節)
GaN/ダイヤモンド接合界面の特性評価
GaN/金刚石结界面的表征
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    梁 剣波;清水 康雄;大野 裕;永井 康介;重川 直輝
  • 通讯作者:
    重川 直輝
High Temperature Stability of p+-Si/p-Diamond Heterojunction diodes
p-Si/p-金刚石异质结二极管的高温稳定性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yota Uehigashi; Shinya Ohmagari; Hitoshi Umezawa; Hideaki Yamada; Jianbo Liang;Naoteru Shigekawa
  • 通讯作者:
    Naoteru Shigekawa
ラマン分光スペクトルデータ解析事例集
拉曼光谱光谱数据分析实例汇总
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    梁 剣波(担当:第7章3節)
  • 通讯作者:
    梁 剣波(担当:第7章3節)
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Liang Jianbo其他文献

Stability of diamond/Si bonding interface during device fabrication process
器件制造过程中金刚石/硅键合界面的稳定性
  • DOI:
    10.7567/1882-0786/aaeedd
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    2.3
  • 作者:
    Liang Jianbo;Masuya Satoshi;Kim Seongwoo;Oishi Toshiyuki;Kasu Makoto;Shigekawa Naoteru
  • 通讯作者:
    Shigekawa Naoteru
Room-temperature bonding of GaN and diamond via a SiC layer
通过 SiC 层进行 GaN 和金刚石的室温键合
  • DOI:
    10.1080/26941112.2022.2145508
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kobayashi Ayaka;Tomiyama Hazuki;Ohno Yutaka;Shimizu Yasuo;Nagai Yasuyoshi;Shigekawa Naoteru;Liang Jianbo
  • 通讯作者:
    Liang Jianbo
Room temperature direct bonding of diamond and InGaP in atmospheric air
大气中金刚石和InGaP的室温直接键合
  • DOI:
    10.1080/26941112.2020.1869435
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Liang Jianbo;Nakamura Yuji;Ohno Yutaka;Shimizu Yasuo;Nagai Yasuyoshi;Wang Hongxing;Shigekawa Naoteru
  • 通讯作者:
    Shigekawa Naoteru
Artifacts in the structural analysis of SAB-fabricated interfaces by using focused ion beam
使用聚焦离子束对 SAB 制造的界面进行结构分析中的伪影
  • DOI:
    10.23919/ltb-3d.2019.8735379
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Ohno Yutaka;Yoshida Hideto;Kamiuchi Naoto;Aso Ryotaro;Takeda Seiji;Shimizu Yasuo;Ebisawa Naoki;Nagai Yasuyoshi;Liang Jianbo;Shigekawa Naoteru
  • 通讯作者:
    Shigekawa Naoteru
Fabrication of β-Ga2O3/Si heterointerface and characterization of interfacial structures for high power device applications
高功率器件应用的 β-Ga2O3/Si 异质界面的制备和界面结构的表征
  • DOI:
    10.35848/1347-4065/ac4c6c
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Liang Jianbo;Takatsuki Daiki;Higashiwaki Masataka;Shimizu Yasuo;Ohno Yutaka;Nagai Yasuyoshi;Shigekawa Naoteru
  • 通讯作者:
    Shigekawa Naoteru

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