Development of dislocation dynamics simulator for 4H-SiC power devices

4H-SiC功率器件位错动力学模拟器的开发

基本信息

  • 批准号:
    20K22384
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.58万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Research Activity Start-up
  • 财政年份:
    2020
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2020-09-11 至 2022-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(4)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Comparative study of the effect of van der Waals interactions on stacking fault energies in SiC
范德华相互作用对 SiC 堆垛层错能影响的比较研究
  • DOI:
    10.1063/5.0073402
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.2
  • 作者:
    Sakakima Hiroki;Hatano Asuka;Izumi Satoshi
  • 通讯作者:
    Izumi Satoshi
SiC結晶の積層欠陥エネルギーにファンデルワールス相互作用が与える影響の検討
范德华相互作用对SiC晶体堆垛层错能的影响研究
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    土山晃平;宮廻裕樹;奈良高明;榊間 大輝,波田野 明日可,泉 聡志
  • 通讯作者:
    榊間 大輝,波田野 明日可,泉 聡志
Modeling the effect of mechanical stress on bipolar degradation in 4H-SiC power devices
模拟机械应力对 4H-SiC 功率器件双极退化的影响
  • DOI:
    10.1063/5.0010648
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.2
  • 作者:
    Sakakima Hiroki;Goryu Akihiro;Kano Akira;Hatano Asuka;Hirohata Kenji;Izumi Satoshi
  • 通讯作者:
    Izumi Satoshi
Izumi & Hatano Lab.
和泉
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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Hiroki Sakakima其他文献

First-principles investigation of the effects of excess carriers on the polytype stability and stacking fault energies of SiC
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  • 影响因子:
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  • 作者:
    Hiroki Sakakima;Satoshi Izumi
  • 通讯作者:
    Satoshi Izumi
Temperature-dependent stacking fault energies of 4H-SiC: A first-principles study
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  • DOI:
    10.1063/1.5141029
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
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  • 通讯作者:
    S. Izumi
Reaction pathway analysis for the contraction of 4H-SiC partial-dislocations pair in the vicinity of surface
4H-SiC部分位错对表面附近收缩的反应路径分析
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  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Atsuo Hirano;Hiroki Sakakima;Asuka Hatano;S. Izumi
  • 通讯作者:
    S. Izumi
Automated 3D reconstruction of isolated mitochondria from cardiomyocyte SBEM images
从心肌细胞 SBEM 图像中自动 3D 重建分离的线粒体
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Asuka Hatano;Makoto Someya;Hiroaki Tanaka;Hiroki Sakakima;Satoshi Izumi;Masahiko Hoshijima;Mark Ellisman;Andrew D McCulloch
  • 通讯作者:
    Andrew D McCulloch
NO Annealing Simulation of 4H-SiC/SiO2 by Charge-Transfer Type Molecular Dynamics
电荷转移型分子动力学模拟 4H-SiC/SiO2 的 NO 退火
  • DOI:
    10.4028/p-76fprt
  • 发表时间:
    2023
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y. Ohuchi;Hidenori Saeki;Hiroki Sakakima;S. Izumi
  • 通讯作者:
    S. Izumi

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