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シリコンカーバイド(4H-SiC)中の格子欠陥の評価: 電子スピン共鳴(ESR)法と、 第一原理計算の対応

碳化硅(4H-SiC)晶格缺陷的评估:电子自旋共振(ESR)方法与第一性原理计算之间的对应关系

基本信息

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
梅田享英
中科院分区:
文献类型:
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作者: 北 一晟;原 光生;永野 修作;関 隆広;梅田享英研究方向: -- MeSH主题词: --
关键词: --
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文献摘要

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关联基金

Electron-spin-resonance study on SiC-MOSFETs and their MOS interface defects related to channel-mobility degradation
批准号:
25286054
批准年份:
2013
资助金额:
11.98
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
梅田享英
通讯地址:
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