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Two-stage Pipelined SRAM Design Based on 14nm FinFET Process

基于14nm FinFET工艺的两级流水线SRAM设计

基本信息

DOI:
10.1145/3573428.3573497
发表时间:
2022
期刊:
Proceedings of the 2022 6th International Conference on Electronic Information Technology and Computer Engineering
影响因子:
--
通讯作者:
Zhongda Zhang
中科院分区:
文献类型:
--
作者: Yuan Lou;Lijun Zhang;Yuling Yan;Lijun Ma;Zhongda Zhang研究方向: -- MeSH主题词: --
关键词: --
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文献摘要

In this paper, we propose a two-stage pipeline architecture for Static Random Memories (SRAM), which can reduce the decoder delay and thus effectively improve the memory operation speed. The proposed two-stage pipeline architecture divides the SRAM in the conventional architecture into two parts, the decoder and the read/write path, by a hierarchical approach and uses registers to connect these two parts. Simulation results using SMIC 14nm FinFET devices show that for a high-speed SRAM of 512words*16bits, the access speed of the array is improved by 21% compared to the SRAM under the conventional architecture. This design not only implements the read/write function of the two-stage pipelined SRAM, but also provides some optimization of its performance.
在本文中,我们针对静态随机存储器(SRAM)提出了一种两级流水线架构,该架构能够减少译码器延迟,从而有效提高存储器的运行速度。所提出的两级流水线架构通过分层方法将传统架构中的SRAM分为译码器和读/写路径两部分,并使用寄存器连接这两部分。使用中芯国际14nm鳍式场效应晶体管器件的仿真结果表明,对于一个512字×16位的高速SRAM,与传统架构下的SRAM相比,阵列的访问速度提高了21%。这种设计不仅实现了两级流水线SRAM的读/写功能,还对其性能进行了一些优化。
参考文献(1)
被引文献(0)
Mixed EDOF老視用レンズの有効性
混合 EDOF 老花镜片的有效性
DOI:
发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
0
作者:
山口昌大;平塚義宗;村上晶
通讯作者:
村上晶

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Zhongda Zhang
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