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A Huffman-based coding with efficient test application

具有高效测试应用程序的基于霍夫曼的编码

基本信息

DOI：
--
发表时间：
2005
期刊：
IEEE Proc.ASP-DAC
影响因子：
--
通讯作者：
M.Shintani
中科院分区：
文献类型：
--
作者： H.Ichihara;T.Saiki;H.Ichihara;T.Saiki;T.Saiki;H.Ishihara;市原 英行;M.Shintani研究方向： -- MeSH主题词： --
关键词： --
来源链接：pubmed详情页地址

文献摘要

参考文献（16）
被引文献（4）
Test data compression using dictionaries with fixed-length indices [SOC testing]
使用具有固定长度索引的字典测试数据压缩[SOC 测试]
DOI：
10.1109/vtest.2003.1197654
发表时间：
2003
期刊：
Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003.
影响因子：
0
作者：
Lei Li;K. Chakrabarty
通讯作者：
K. Chakrabarty
Packet-based input test data compression techniques
基于数据包的输入测试数据压缩技术
DOI：
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings. International Test Conference
影响因子：
0
作者：
E. Volkerink;A. Khoche;S. Mitra
通讯作者：
S. Mitra
Built-in self testing of sequential circuits using precomputed test sets
使用预先计算的测试集对时序电路进行内置自测试
DOI：
发表时间：
1998
期刊：
Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
0
作者：
V. Iyengar;K. Chakrabarty;B. Murray
通讯作者：
B. Murray
Dynamic test compression using statistical coding
使用统计编码的动态测试压缩
DOI：
10.1109/ats.2001.990273
发表时间：
2001
期刊：
Proceedings 10th Asian Test Symposium
影响因子：
0
作者：
H. Ichihara;Atsuhiro Ogawa;T. Inoue;A. Tamura
通讯作者：
A. Tamura
A Test Decompression Scheme for Variable-Length Coding
变长编码的测试解压方案
DOI：
发表时间：
2004
期刊：
IEEE Proc.Asian Test Symp.
影响因子：
0
作者：
H.Ichihara;M.Ochi;M.Shintani;T.Inoue
通讯作者：
T.Inoue

数据更新时间：{{ references.updateTime }}

关联基金

Studies on Test Architecture for Test Data Compression / Decompression
批准号：
15300021
批准年份：
2003
资助金额：
6.08
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
M.Shintani
通讯地址:
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所属机构:
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电子邮件地址：
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