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Error Rate Test of Large-Scale SFQ Digital Circuit Systems

大规模SFQ数字电路系统的误码率测试

基本信息

DOI：
--
发表时间：
2005
期刊：
IEEE Trans.Appl.Supercond. (印刷中)
影响因子：
--
通讯作者：
S.Yorozu
中科院分区：
文献类型：
--
作者： K.Fujiwara;N.Nakajima;T.Nishigai;M.Ito;N.Yoshikawa;A.Fujimaki;H.Terai;S.Yorozu研究方向： -- MeSH主题词： --
关键词： --
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文献摘要

参考文献（13）
被引文献（9）
Error rate of RSFQ circuits: theory
RSFQ 电路的错误率：理论
DOI：
10.1109/77.621786
发表时间：
1997
期刊：
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
影响因子：
1.8
作者：
Q. Herr;M. Feldman
通讯作者：
M. Feldman
Advanced on-chip test technology for RSFQ circuits
适用于 RSFQ 电路的先进片上测试技术
DOI：
10.1109/77.622124
发表时间：
1997
期刊：
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
影响因子：
1.8
作者：
A. Kirichenko;O. Mukhanov;Andrey I. Ryzhikh
通讯作者：
Andrey I. Ryzhikh
Timing jitter and bit errors in a 64-bit circular shift register
64 位循环移位寄存器中的时序抖动和位错误
DOI：
10.1109/77.783836
发表时间：
1999
期刊：
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
影响因子：
1.8
作者：
A. M. Herr;M. Feldman;M. Bocko
通讯作者：
M. Bocko
Design and implementation of circuit components of the SFQ microprocessor, CORE1
SFQ微处理器CORE1电路组件的设计与实现
DOI：
10.1088/0953-2048/17/3/001
发表时间：
2004
期刊：
Superconductor Science and Technology
影响因子：
3.6
作者：
N. Nakajima;F. Matsuzaki;Y. Yamanashi;N. Yoshikawa;Masamitsu Tanaka;T. Kondo;A. Fujimaki;H. Terai;S. Yorozu
通讯作者：
S. Yorozu
Single flux, quantum B flip-flop and its possible applications
单通量、量子B触发器及其可能的应用
DOI：
10.1109/77.273059
发表时间：
1994
期刊：
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
影响因子：
1.8
作者：
S. Polonsky;V. Semenov;A. Kirichenko
通讯作者：
A. Kirichenko

数据更新时间：{{ references.updateTime }}

关联基金

単一磁束量子を情報担体とする超高速メモリシステムに関する研究
批准号：
04J04854
批准年份：
2004
资助金额：
1.22
项目类别：
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
S.Yorozu
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