High-speed, High-resolution and Non-destructive Characterization Technique for Next-generation HTS Wire as a Fundamental Technology for Its Application to Electric Power Devices

下一代高温超导线材的高速、高分辨率、无损表征技术是其在电力器件中应用的基础技术

基本信息

  • 批准号:
    23760263
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.83万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
  • 财政年份:
    2011
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2011 至 2012
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

High-speed, high-resolution and non-destructive characterization technique for 2nd-generation high-temperature superconducting (2G HTS) wire has been successfully developed in this program. Improving the characterization speed to 200 times faster, the technique has finally visualized in-plane distribution of local critical current density for a 2G HTS wire at a characterization speed equivalent of itsmanufacturing speed with the spatial resolution of 1 mm. This technique will be a very powerful tool for overcoming the problem of spatial inhomogeneity in 2G HTS wires intended to electric power applications
该项目成功开发了第二代高温超导(2G HTS)线材的高速、高分辨率、无损表征技术。该技术将表征速度提高了 200 倍,最终以 1 mm 的空间分辨率,以相当于其制造速度的表征速度,可视化了 2G HTS 线的局部临界电流密度的面内分布。该技术将成为克服电力应用 2G HTS 电线空间不均匀性问题的非常强大的工具

项目成果

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专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
長尺RE-123線材の面内臨界電流密度分布非破壊評価に向けたリール式磁気顕微鏡システムの開発
开发卷轴式磁力显微镜系统,用于无损评估长 RE-123 线的面内临界电流密度分布
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    東川甲平; 塩原敬; 奥村慶太郎; 今村和孝; 井上昌睦; 木須隆暢; 木村一成; 小泉勉; 青木裕治; 青木伸夫; 吉積正晃; 和泉輝郎
  • 通讯作者:
    和泉輝郎
Nondestructive RtR characterization of long GdBCO coated conductor
长 GdBCO 涂层导体的无损 RtR 表征
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Higashikawa et al
  • 通讯作者:
    K. Higashikawa et al
高温超伝導マグネット応用に向けた線材特性評価・電磁特性解析・コイル設計技術
高温超导磁体应用的线材性能评估、电磁性能分析和线圈设计技术
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    東川甲平
  • 通讯作者:
    東川甲平
High-speed scanning Hall-probe microscopy for two-dimensional characterization of local critical current density in long-length coated conductor
高速扫描霍尔探针显微镜用于长涂层导体局部临界电流密度的二维表征
  • DOI:
    10.1016/j.phpro.2012.03.452
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Higashikawa; K. Shiohara; Y. Komaki; K. Okumura; K. Imamura; M. Inoue; T. Kiss; Y. Iijima; T. Saitoh; T. Machi; M. Yoshizumi; T. Izumi; H. Okamoto
  • 通讯作者:
    H. Okamoto
Noncontact Characterization of In-plane Distribution of Critical Current Density in Multifilamentary Coated Conductor
多丝涂层导体中临界电流密度面内分布的非接触表征
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Higashikawa et al
  • 通讯作者:
    K. Higashikawa et al
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HIGASHIKAWA Kohei其他文献

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