Development and application of nano-analysis of optical materials by multi-dimensional spectrum image technique

多维光谱图像技术光学材料纳米分析的开发与应用

基本信息

  • 批准号:
    21360321
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 11.48万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2009
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2009 至 2011
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

The main achievement of this study is summarized in the following(1) We succeeded in developing a TEM specimen holder with the light-collecting system integrated, whose collection efficiency was increased by two orders of magnitude. We confirmed that it was able to measure cathodoluminescence from nanometer areas of optical materials.(2) We improved a program for multivariate curve resolution and clarified the nano-structure and spatial distributions of the chemical bonding states of the white-luminescent carbonized meso-porous silica nanocomposite, consisting of only ubiquitous elements.
本研究的主要成果概括如下:(1)成功研制了集成集光系统的TEM样品架,其集光效率提高了两个数量级。我们证实它能够测量光学材料纳米区域的阴极发光。(2)改进了多元曲线分辨率程序,阐明了白光发光碳化介孔材料的纳米结构和化学键态的空间分布。二氧化硅纳米复合材料,仅由普遍存在的元素组成。

项目成果

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Diagnostic nano-analysis of materials properties by multivariate curve resolution applied to spectrum images by S/TEM-EELS
通过 S/TEM-EELS 应用于光谱图像的多元曲线分辨率对材料特性进行诊断纳米分析
  • DOI:
  • 发表时间:
    2009
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    S.Muto; T.Yoshida; K.Tatsumi
  • 通讯作者:
    K.Tatsumi
反応触媒濃度によるメソポーラスカーボンシリカの発光色制御
通过反应催化剂浓度控制介孔碳二氧化硅的发射颜色
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    佐藤功二;石川由加里;石井陽祐;川崎晋司;武藤俊介
  • 通讯作者:
    武藤俊介
Eu,Y添加Ca_2SnO_4赤色蛍光材料の電子チャネリングTEM-EELS/EDXによる状態分析
电子通道TEM-EELS/EDX对Eu,Y掺杂Ca_2SnO_4红色荧光材料的状态分析
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    武藤俊介;藤通有希;巽一厳;山根久典;川野哲也
  • 通讯作者:
    川野哲也
白色発光を示すSi-O-Cナノ構造体の化学結合マッピング
显示白光发射的 Si-O-C 纳米结构的化学键图谱
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    武藤俊介; A.V.Vasin; 石川由加里; 柴田典義
  • 通讯作者:
    柴田典義
Quantitative determination of site occupancy of multi-rare-earth elements doped in to Ca_2SnO_4 phosphor by electron channeling microanalysis
电子沟道微量分析法定量测定Ca_2SnO_4荧光粉中多种稀土元素的位点占有率
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.3
  • 作者:
    Y.Fujimichi; S.Muto; K.Tatsumi; T.Kawano; H.Yamane
  • 通讯作者:
    H.Yamane
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