透明酸化物半導体をベースとする紫外発光ダイオードの試作(マスターデータと齟齬)

基于透明氧化物半导体的紫外发光二极管原型(与主数据存在差异)

基本信息

  • 批准号:
    05F05143
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.54万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
  • 财政年份:
    2005
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2005 至 2006
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

透明P型酸化物半導体で、かつ室温で安定な励起子を有する物質としてLaCuOSeを取り上げ、そのエピタキシャル薄膜の作成と光・電子物性め検討をおこなった。1.基板としてMgO(001)を用いて、金属のCu層を3nm程度下地に敷き、その上にR-SPE法によってエピ薄膜を成長させることに成功した。2.正孔濃度が薄膜の厚さによって顕著に減少することを見出した。薄膜の厚みが100nmでは、2x10^<20>cm^<-3>であるが、40nmになると2x1021cm^<-3>まで増大した。移動度は3-4cm^2(Vs)-<-1>で変化がなかった。1021cm-3まで正孔濃度が増大したことによって、P型透明半導体の薄膜において、初めて自由電子キャリアの吸収が明瞭に観察され、それをDrude-Lorentzモデルで解析することで、有効質量、運動量緩和時間など電子輸送パラメータを抽出することができた。3.2で得られた薄膜試料を使って、有機EL素子のホール注入電極としての応用を検討した。表面クリーニングをおこなうことで仕事関数が5eVというかなり高い値が得られた。ITOよりもホール注入を速やかにおこなえる可能性が示唆されたといえよう。
我们选择LaCuOSe作为透明P型氧化物半导体和在室温下稳定的具有激子的物质,并制作了其外延薄膜并研究了其光学和电子特性。 1、以MgO(001)为衬底,在其上沉积约3 nm的金属Cu层,并通过R-SPE方法在其上成功生长外延薄膜。 2.我们发现空穴浓度随着薄膜厚度的增加而显着降低。当薄膜的厚度为100nm时,其为2×10^20cm^-3,但当其变为40nm时,其增加至2×1021cm^-3。迁移率保持不变,为3-4cm^2(Vs)-<-1>。当空穴浓度增加到1021 cm-3时,首次在P型透明半导体薄膜中清晰地观察到自由电子载流子的吸收,并通过使用德鲁德-洛伦兹模型进行分析,得出有效质量和动量弛豫我们能够提取电子传输参数,例如时间。使用3.2中获得的薄膜样品,我们研究了其作为有机EL器件的空穴注入电极的应用。通过进行表面清洁,获得了 5 eV 的相当高的功函数。这表明空穴注入速度可能比 ITO 更快。

项目成果

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会议论文数量(0)
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