Research on Test Methodology for 3D Integrated SoCs

3D集成SoC测试方法研究

• 批准号: 21700059
• 负责人: YONEDA Tomokazu
• 金额: $ 2.75万
• 依托单位: Nara Institute of Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21700059/
• 关键词: テスト容易化設計; 高品質遅延テスト; システムオンチップ; 3次元集積化; 三次元集積化; テストアーキテクチャ

The objective of this research is to find efficient methods of test generation and design for testability to achieve high quality and low cost test for 3D integrated SoCs. In this research, I focused attention on temperature during test and test data volume for 3D integrated SoCs. Consequently, I established a test generation method to reduce temperature-variation-induced delay test quality loss and a test cost optimization method that can achieve high quality delay test with low test data volume.

这项研究的目的是找到有效的测试生成和设计方法，以实现3D集成SOC的高质量和低成本测试。在这项研究中，我将注意力集中在测试和测试数据量3D集成SOC期间的温度上。因此，我建立了一种测试生成方法，以减少温度变化引起的延迟测试质量损失和一种可以在低测试数据量的情况下实现高质量延迟测试的测试成本优化方法。

项目成果

高精度遅延テストのためのテストパターン生成法

高精度延迟测试的测试模式生成方法

• 发表时间: 2011
• 作者: Tomokazu Yonedaノルウェートロンハイム.;Makoto Nakao;Michiko Inoue;Yasuo Sato and Hideo Fujiwara;Tomokazu Yoneda;堀慧悟
• 通讯作者: 堀慧悟

テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法

测试执行期间初始温度均匀性的模式生成方法

• 发表时间: 2011
• 作者: Tomokazu Yonedaノルウェートロンハイム.;Makoto Nakao;Michiko Inoue;Yasuo Sato and Hideo Fujiwara;Tomokazu Yoneda;堀慧悟;小副川絵美子
• 通讯作者: 小副川絵美子

Faster-than-at-speed test for increased test quality and in-field reliability

• DOI: 10.1109/test.2011.6139131
• 发表时间: 2011-09
• 期刊: 2011 IEEE International Test Conference
• 作者: T. Yoneda;Keigo Hori;M. Inoue;H. Fujiwara

A Test Pattern Optimization to Reduce Spatial and Temporal Temperature Variations

减少空间和时间温度变化的测试模式优化

• 发表时间: 2011
• 作者: Tomokazu Yoneda;Makoto Nakao;Michiko Inoue;Yasuo Sato and Hideo Fujiwara
• 通讯作者: Yasuo Sato and Hideo Fujiwara

BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法

BIST 中高质量延迟故障测试的种子选择方法

• 发表时间: 2010
• 作者: Hidetaka Muguruma;Yuichi Tsujita;竹谷啓
• 通讯作者: 竹谷啓