A microscopic technique for direct analysis of local spin arrangement at ferromagnetic interfaces

直接分析铁磁界面局部自旋排列的显微技术

• 批准号: 21760243
• 负责人: KONOTO Makoto
• 金额: $ 2.83万
• 依托单位: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2010
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21760243/
• 关键词: 電子・電気材料; スピンエレクトロニクス; 表面・界面物性; 電子顕微鏡

Various types of spintronic devices based on magnetic functions at thin film interfaces have been extensively studied. Direct measurement of interface spin is crucial to realize such applications, because the device function is governed by local spin orientations at the interface. In this study we have developed a high-resolution microscopic technique capable of quantitative analysis of interface spin arrangement at nanometric resolution.

基于薄膜界面磁功能的各种类型的自旋电子器件已被广泛研究。界面自旋的直接测量对于实现此类应用至关重要，因为器件功能由界面处的局部自旋方向控制。在这项研究中，我们开发了一种高分辨率显微技术，能够以纳米分辨率定量分析界面自旋排列。

项目成果

スピン偏極SEM によるナノ領域磁性の顕微分析

使用自旋极化 SEM 对纳米域磁性进行微观分析

• 发表时间: 2010
• 作者: 末吉哲郎;十河雄大;森脇聡;米倉健志;藤吉孝則;光木文秋;池上知顯;石川法人;甲野藤真
• 通讯作者: 甲野藤真

Direct observation of magnetic ripple domain structures developed in La_0.6Sr_0.4MnO_3 thin films

La_0.6Sr_0.4MnO_3薄膜中磁波纹畴结构的直接观察

• 发表时间: 2010
• 作者: 甲野藤真;山田浩之;澤彰仁
• 通讯作者: 澤彰仁

Recent progress in spin-polarized scanning electron microscopy

自旋偏振扫描电子显微镜的最新进展

• 发表时间: 2010
• 作者: 名西〓之;山口智広;王科;荒木努;E.Yoon;菱沼良光;甲野藤真
• 通讯作者: 甲野藤真

スピン偏極SEMによるナノ領域磁性の顕微分析

使用自旋极化 SEM 对纳米域磁性进行微观分析

• 发表时间: 2010
• 作者: Y.Nanishi;T.Yamaguchi;K.Wang;T.Araki;E.Yoon;甲野藤真
• 通讯作者: 甲野藤真

Recent progress in spin-polarized scanning electron micmoscopy

自旋极化扫描电子显微镜研究最新进展

• 发表时间: 2010
• 作者: 櫻井岳暁;馬場暁久;Ronit Prakash;間瀬一彦;秋本克洋;米倉健志;Y.Nakano;甲野藤真
• 通讯作者: 甲野藤真