High growth-rate hydride-vapor-phase of aluminum nitride

氮化铝的高生长速率氢化物气相

基本信息

  • 批准号:
    21560014
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3.08万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2009
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2009 至 2011
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

AlN is an attractive substrate for short-wavelength optoelectronics devices based on AlGaN. For growth of AlN and AlGaN, lateral overgrowth using a patterned substrate is useful for control of dislocation penetration, because selective-area growth with masks, such as SiO2, cannot be applied. In this study, thick AlN films were grown by HVPE on AlN/sapphire stripe patterned seeds with triangular shape in cross section, and the TDs density on the surface of HVPE-grown films was reduced one order of magnitude from a AlN film without pattern seeds. We also have investigated threading dislocations(TDs) in epitaxial AlN films by etch-pit method. Epitaxial AlN films were etched by mixed acid solution(KOH+ NaOH). The etch-pits were classified into TD groups by those sizes.
对于基于 AlGaN 的短波长光电子器件来说,AlN 是一种极具吸引力的衬底。对于 AlN 和 AlGaN 的生长,使用图案化衬底的横向过度生长对于控制位错穿透非常有用,因为无法应用使用 SiO2 等掩模的选择性区域生长。在这项研究中,通过HVPE在横截面为三角形的AlN/蓝宝石条纹图案种子上生长厚的AlN薄膜,HVPE生长的薄膜表面的TD密度比没有图案种子的AlN薄膜降低了一个数量级。我们还通过蚀刻坑方法研究了外延 AlN 薄膜中的螺纹位错(TD)。采用混合酸溶液(KOH+NaOH)刻蚀外延AlN薄膜。蚀刻坑按这些尺寸分为TD组。

项目成果

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专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
SiCを基板に用いた減圧HVPE法によるAlN成長
以 SiC 为衬底,采用低压 HVPE 法生长 AlN
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    奥村建太;野村拓也;三宅秀人;平松和政;江龍修
  • 通讯作者:
    江龍修
Growth of high quality c-plane AlN on a-plane sapphire
在 a 面蓝宝石上生长高质量 c 面 AlN
Fabrication of ultraviolet-C light source using MOVPE grown AlGaN layer on AlN/sapphire
使用 AlN/蓝宝石上 MOVPE 生长的 AlGaN 层制造紫外 C 光源
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M.Yoshihara;T.Isono;H.Komurasaki;T.Ogino;Hideto Miyake
  • 通讯作者:
    Hideto Miyake
Deep-ultraviolet luminescence from Si-doped AlGaN grown by low-pressure MOVPE
低压 MOVPE 生长的硅掺杂 AlGaN 的深紫外发光
  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Y.Shimahara;H.Taketomi;H.Miyake;K.Hiramatsu;F.Fukuyo;T.Okada;H.Takaoka;H.Yoshida
  • 通讯作者:
    H.Yoshida
Study on interface for AlN growth on sapphire substrate
蓝宝石衬底上AlN生长界面研究
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    R.Miyagawa;S.Yang;H.Miyake;K.Hiramatsu
  • 通讯作者:
    K.Hiramatsu
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