Analytical prediction and homogenization analysis of grain fining effects using a strain gradient plasticity theory

使用应变梯度塑性理论对晶粒细化效果进行分析预测和均匀化分析

基本信息

批准号：
19360048
负责人：
OHNO Nobutada
金额：
$ 10.65万
依托单位：
Nagoya University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2007
资助国家：
日本
起止时间：
2007 至 2009
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19360048/
关键词：
GN転位高次応力多結晶体降伏応力粒径依存性料径依存性

项目摘要

The increase of yield stress due to grain fining is experimentally well-known as the Hall-Petch relation. It has been, however, reported that the grain size dependence of yield stress in the submicron to several-micron range of grain sizes is stronger than that in the Hall-Petch relation. In this study, by implementing the self-energy of dislocations in a strain gradient plasticity theory, the grain size dependence of yield stress is analytically estimated, and the resulting prediction is examined using experimental data. Then, an implicit method of homogenization analysis is developed by taking account of the self energy of dislocations.

在实验上众所周知，由于谷物罚款而增加的屈服应力增加是霍尔 - 奇异关系。然而，据报道，亚微米量中的晶量应力依赖于几种微米范围的晶粒尺寸要比霍尔 - - 奇特关系中的差异更强。在这项研究中，通过在菌株梯度可塑性理论中实施脱位的自我能源，可以通过分析估计屈服应力的晶粒尺寸依赖性，并使用实验数据检查所得的预测。然后，通过考虑错位的自我能量，开发了一种隐式均质化分析方法。

项目成果

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专利数量（0）

転位の自己エネルギーを考慮したサイズ依存現象の解析

考虑位错自能的尺寸相关现象分析

DOI：
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
0
作者：
大野信忠;奥村大
通讯作者：
奥村大

Grain size dependence of yield stress due to strain energy of geometrically necessary dislocations

由于几何必要位错的应变能而导致的屈服应力与晶粒尺寸的相关性

DOI：
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
0
作者：
大野信忠;奥村大;N. Ohno
通讯作者：
N. Ohno

GN転位の自己エネルギーによる多結晶塑性の寸法依存性

GN位错自能引起的多晶塑性的尺寸依赖性

DOI：
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
0
作者：
柴田智行;奥村大;大野信忠
通讯作者：
大野信忠

Strain gradient effects due to self-energy of geometrically necessary dislocations

由于几何必要位错的自能而产生的应变梯度效应

DOI：
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
0
作者：
柴田智行;奥村大;大野信忠;楊暁冬;N. Ohno;N. Ohno
通讯作者：
N. Ohno

Implicit iterative finite element scheme for strain gradient crystal plasticity model based on self-energy of GNDs

基于GND自能的应变梯度晶体塑性模型隐式迭代有限元方案

DOI：
发表时间：
2010
期刊：
Proceedings of 2010 M&M International Symposium for Young Researchers (CD-ROM)
影响因子：
0
作者：
R. Kametani;K. Kodera;D. Okumura;N. Ohno
通讯作者：
N. Ohno