Development of time-resolved X-ray reflectometory for real-time studies of structural changes of thin films

开发用于实时研究薄膜结构变化的时间分辨 X 射线反射仪

• 批准号: 19360023
• 负责人: MATSUSHITA Tadashi
• 金额: $ 11.81万
• 依托单位: High Energy Accelerator Research Organization
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2007
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2007 至 2008
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19360023/
• 关键词: ビーム応用; 時分割測定; 鏡面X線反射率; 多波長同時分散; 薄膜; 構造変化; 彎曲結晶ポリクロメーター; ビーム応用; 時分割測定; 鏡面X線反射率; 多波長同時分散; 薄膜; 構造変化; 彎曲結晶ポリクロメーター

測定中に機械的運動を何ら必要とせずに鏡面X線反射率曲線プロファイル全体を同時に測定し、サブ秒~ミリ秒の時分割測定を可能とする方法を開発した。これを用いシリコン基板上のアゾベンゼンを分子中にもつ光応答高分子LB膜(6Az10PVA ; 9層)を形成し、波長375nmの紫外レーザー(CW、8mW)光を照射しながらX線反射率曲線を測定したところ、紫外光照射後10分程度からX線反射率曲線に変化が現れることを観測できた。また、液体表面(エチレングリコールおよび水)からのX線反射率曲線の測定に成功し、水中に球状タンパク質分子を注入するとタンパク質分子が水面でunfoldingを起こすことによるX線反射率曲線の時間変化を観察できた。

已经开发了一种方法，可以通过同时测量整个镜面X射线反射曲线曲线，而无需在测量过程中进行任何机械运动，从而可以通过测量整个镜面X射线反射曲线曲线来对次秒至毫秒的时间进行测量。 Using this, a photoresponsive polymer LB film (6Az10PVA; 9 layers) containing azobenzene in the molecule was formed on a silicon substrate, and the X-ray reflectance curve was measured while irradiating ultraviolet laser (CW, 8mW) light with a wavelength of 375 nm, and it was observed that a change in the X-ray reflectance curve appeared from about辐照后10分钟，用紫外线光。此外，我们成功地测量了液体表面（乙二醇和水）的X射线反射曲线，并观察到当将球形蛋白分子注入水中时，蛋白质分子在水表面展开引起的X射线反射曲线中的时间变化。