中間子ー薄膜相互作用により発生する二次電子の研究

介子-薄膜相互作用产生二次电子的研究

基本信息

批准号：
63103008
负责人：
藤本文範
金额：
$ 0.38万
依托单位：
Osaka University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Special Project Research
财政年份：
1988
资助国家：
日本
起止时间：
1988 至无数据
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-63103008/
关键词：
ミュウ-中間子阻止能バーカス項ブロッホ項二次電子

项目摘要

阻止能の入射粒子に電荷依存性は、一般にaZ_1^2+bZ_1^3+cZ_1^4+…のように書くことができる。第一項は一次のボルン近似で導かれる項、第2項、第3項は、それぞれBarkas項、Bloch項と呼ばれる補正項である。Barkas項の大きさは近接散乱の効果の見積り方により2倍程度の違いがあることが知られている。従来実験的にこれを認めるため、等速のp、α、Li^<3+>といったイオンによる阻止能を測定し、上記のZ_1依存性を導く試みがなされてきた。このような方法は、しかしながらZ_1^4項の寄与やLiイオンが標的中で必ずしも裸でないことによる効果等があって、はっきりしたことがいえなかった。これに対し、等速のμ^+とμ^-を用いると価電状態の速度依存性を考慮する必要がないばかりか、Bloch項が両者について等しいためより正確にBarkas項を決定できることになる。一方、価電粒子が個体を衝撃した際、放出される2次電子の個数は、阻止能に比例することが知られている。我々はこの2次電子の個数分布を、ほぼ100%の効率で測定する方法を開発し、上記のμ^+、μ^-ビームを個体の散乱に適用した。本年度は良質のDCビームが得られる、ブリティッシュコロンビア大学(カナダ)のTRIUMFを訪れ1〜2MeV程度のミューオンを用いてこの2次電子数分布(MUSE Multiple Emitted Secondary Electron)測定実験を行った。ミューオンは1メートル程度離したミンチレーション検出器の時間差から、そのエネルギーを決定し、それと同時計測する形で、MUSEを決定した。現在、Barkas項がより重要になると思われるエネルギーの低い領域での実験をおこなう為、TRIUMFのビームラインと直結し、より大きな標的に対して、時間分解能のよい測定をする準備をすすめている。

阻止本领对入射粒子电荷的依赖性通常可以写为 aZ_1^2+bZ_1^3+cZ_1^4+...第一项是通过一阶玻恩近似导出的项，第二项和第三项是校正项，分别称为巴卡斯项和布洛赫项。众所周知，巴卡斯项的大小会根据邻近散射效应的估计方式而变化大约两倍。为了通过实验证实这一点，传统上已经尝试通过测量均匀运动的离子如p、α和Li 3+ 的阻止本领来导出上述Z_1依赖性。然而，利用这种方法，由于Z_1^4项的贡献以及目标中Li离子不一定是裸露的影响，无法获得明确的结果。另一方面，使用恒定速度 μ^+ 和 μ^- 不仅不需要考虑价态的速度依赖性，而且还可以更准确地确定 Barkas 项，因为两者的 Bloch 项相同.另一方面，众所周知，当价粒子轰击个体时，发射的二次电子数量与阻止本领成正比。我们开发了一种几乎100%效率的测量二次电子数量分布的方法，并将上述μ^+和μ^-光束应用于固体的散射。今年，我们访问了能够获得高质量直流电子束的不列颠哥伦比亚大学（加拿大）的TRIUMF，并进行了使用约1至2个μ介子测量二次电子数分布（MUSE Multiple Emissed secondary Electron）的实验。兆伏。 μ子能量是根据放置在约1米外的最小检测器之间的时间差确定的，并且通过同时测量它来确定MUSE。目前，为了在巴卡斯项预计变得更加重要的低能区域进行实验，我们正在准备直接连接TRIUMF光束线并以良好的时间分辨率测量更大的目标。