Development of electron differential interferometry and its application to magnetic materials
电子微分干涉技术的发展及其在磁性材料中的应用
基本信息
- 批准号:09555021
- 负责人:
- 金额:$ 7.17万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:1997
- 资助国家:日本
- 起止时间:1997 至 1999
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
Electron holography, which enables us to measure the electron phase shift with high precise and high resolution, requires a well-defined reference wave. This restricts the application to materials science. The theme of this research is to develop a new electron differential microscopy to overcome this disadvantage of electron holography and a system which makes a real time observation possible.Following results have been obtained in this project :i) In order to compensate for the lack of sensitivity in differential interferometry for weak phase objects, we proposed electron phase differential micrography that is realized by means of digital reconstruction method. For convenience an electron trapezoidal prism has been invented and replaced electron biprism.ii) We successfully observed directly the magnetic vectors in ferromagnetic thin films and that leaking from single magnetic domain particles by the two dimensional differentiation. It has been found that the reference phase reconstructed from all holograms should be coincident to each other, and an effect of Fresnel diffraction at an electron prism is important, too.iii) A complete simulation of electron holograms which include Fresnel effects, the quantum noise and the coherency of electrons has been accomplished.iv) Applying an additional square-wave voltage to the electron trapezoidal prism and recording double-exposure holograms on videotape, we confirmed that the real time observation in electron differential interferometry is available, though the time resolution obtained is about 1 sec. so far.
电子全息术使我们能够高精度、高分辨率地测量电子相移,它需要一个明确的参考波。这限制了其在材料科学中的应用。本研究的主题是开发一种新的电子微分显微镜来克服电子全息术的这一缺点,并开发一种使实时观察成为可能的系统。该项目已获得以下结果:i)为了弥补电子全息术的不足为了提高弱相位物体微分干涉测量的灵敏度,我们提出了通过数字重建方法实现的电子相位微分显微成像。为了方便起见,发明了电子梯形棱镜并取代了电子双棱镜。ii)我们通过二维微分成功地直接观察到了铁磁薄膜中的磁矢量以及从单磁畴粒子泄漏的磁矢量。已经发现,从所有全息图重建的参考相位应该彼此重合,并且电子棱镜处的菲涅尔衍射效应也很重要。iii) 电子全息图的完整模拟,包括菲涅尔效应、量子噪声iv) 对电子梯形棱镜施加额外的方波电压并在录像带上记录双曝光全息图,我们证实了真实的尽管获得的时间分辨率约为1秒,但可以使用电子微分干涉测量法进行时间观察。迄今为止。
项目成果
期刊论文数量(60)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
平山司: "電子波干渉による電場・磁場の直視と材料科学への応用"まてりあ. 37・6. 454-460 (1998)
平山司:“通过电子波干涉直接观察电场和磁场及其在材料科学中的应用”Materia 37・6(1998)。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
T.Hanai: "Maximum entropy restoration of electron microscope images with random spatial distribution constraint" Scanning Microscopy. supl.11(発表予定). (1998)
T.Hanai:“具有随机空间分布约束的电子显微镜图像的最大熵恢复”扫描显微镜。11(待提交)。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
花井孝明: "Maximum entropy restoration of electron microscope images with random spatial distribution constrait" Scanning Microscopy. supl. 11(発表予定). (1998)
Takaaki Hanai:“具有随机分布约束的电子显微镜图像的最大熵空间恢复”扫描显微镜 11(待提交)。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
T. Hanai: "Characteristics and effectiveness of a foil lens for correction of spherica aberration in scanning transmission electron microscopy"Journal of Electro Microscopy. 47・3. 185-192 (1998)
T. Hanai:“扫描透射电子显微镜中用于校正球面像差的箔透镜的特性和有效性”《电子显微镜杂志》47・3(1998)。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
T. Hanai: "Reduction of spherical aberration of a transmission electron microscope by means of a foil lens"Electron Microscopy. 1. 82-84 (1998)
T. Hanai:“通过箔透镜减少透射电子显微镜的球差”电子显微镜。
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