DEVELOPMENT OF NOVEL THIN FILM VARISTORS BY CHEMICAL SOLUTION DEPOSITION
化学溶液沉积法开发新型薄膜压敏电阻
基本信息
- 批准号:13450270
- 负责人:
- 金额:$ 0.83万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2001
- 资助国家:日本
- 起止时间:2001 至 2002
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
This work focused on the low temperature processing of novel thin film varistors by chemical solution deposition method. Fabrication of SrTiO_3/Nb:SrTiO_3/SrTiO_3 layered films with insulator/semiconductor/insulator structure could successfully synthesized by considering the starting materials, chemical additives, and heating procedures. The typical non-linear V-I character was successfully observed for the prepared thin film varistors. ESCA analysis revealed that the interlayer diffusion of the metal elements such as La, Ni, Nb was negligiblly small even after heat treatment at 700℃. Non-linear coefficient and varistor voltage for the thin film with 500 nm thickness were confirmed to be 4.5 and 38kV/cm^<-1>, respectively. The orientation of perovskite LaNiO_3 electrode films on the substrate found to be controlled by the concentration of precursor solutions. These results can be applied for processing and development of the novel varistor integrated with IC system.
本工作重点是采用化学溶液沉积法低温加工新型薄膜压敏电阻,通过考虑起始材料、化学添加剂和工艺条件,成功合成了具有绝缘体/半导体/绝缘体结构的SrTiO_3/Nb:SrTiO_3/SrTiO_3层状薄膜。成功地观察到所制备的薄膜压敏电阻的典型非线性 V-I 特性,表明了层间扩散。即使在700℃热处理后,La、Ni、Nb等金属元素也小到可以忽略不计,500nm厚度的薄膜的非线性系数和压敏电压被证实为4.5和38kV/cm^-1。分别发现基板上钙钛矿 LaNiO_3 电极薄膜的取向受前驱体溶液浓度的控制,这些结果可用于新型材料的加工和开发。压敏电阻与IC系统集成。
项目成果
期刊论文数量(22)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
K. Ueno, W. Sakamoto, T. Yogo, S. Hirano: "Synthesis of Conductive LaNiO_3 Thin Films by Chemical Solution Deposition"Japanese Journal of Applied Physics. 40・10. 6049-6054 (2001)
K. Ueno、W. Sakamoto、T. Yogo、S. Hirano:“化学溶液沉积法合成导电 LaNiO_3 薄膜”日本应用物理学杂志 40・10 6049-6054 (2001)。
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- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
K. Ueno, W. Sakamoto, T. Yogo, S. Hirano: "Synthesis of Conductive LaNiO_3 Thin Films through Chemical Solution Deposition of Metal-Organics"Ceramic Transactions. 112. 305-310 (2001)
K. Ueno、W. Sakamoto、T. Yogo、S. Hirano:“通过金属有机物化学溶液沉积合成导电 LaNiO_3 薄膜”《陶瓷交易》。
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- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
K.Ueno, W.Sakamoto, T.Yogo, S.Hirano: "Processing of Movel Strontium Titanate-Based Thin-Film Varistors by Chemical Solution Deposition"J. Am. Ceram. Soc.. 86[1]. 99-104 (2003)
K.Ueno、W.Sakamoto、T.Yogo、S.Hirano:“化学溶液沉积法加工Movel钛酸锶基薄膜压敏电阻”J。
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- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
K.Ueno, W.Sakamoto, T.Yogo, S.Hirano: "Synthesis of Conductive LaNiO3 Thin Films by Chemical Solution Deposition"Japanese Journal of Applied Physics. 40(10). 6049-6054 (2001)
K.Ueno、W.Sakamoto、T.Yogo、S.Hirano:“化学溶液沉积法合成导电 LaNiO3 薄膜”日本应用物理学杂志。
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- 影响因子:0
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- 通讯作者:
W.Sakamoto, M.Mizuno, Y.Horie, T.Yogo, S.Hirano: "Chemical Solution Processing and Characterization of Highly Oriented (Ba, Ln) Nb206 [Ln : La, Gd, Dy] Thin Films"Jpn, J. Appl. Phys.. 41[1]. 6647-6652 (2002)
W.Sakamoto、M.Mizuno、Y.Horie、T.Yogo、S.Hirano:“高度取向 (Ba, Ln) Nb206 [Ln : La, Gd, Dy] 薄膜的化学溶液处理和表征”Jpn, J
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