低線量γ線照射と低周波電圧印加部分放電計測による絶縁物中のボイド検出

通过低剂量γ射线照射检测绝缘子中的空隙以及通过施加低频电压进行局部放电测量

基本信息

批准号：
07650326
负责人：
長尾雅行
金额：
$ 1.34万
依托单位：
Toyohashi University of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
财政年份：
1995
资助国家：
日本
起止时间：
1995 至无数据
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-07650326/
关键词：
低線量γ線低周波電圧絶縁体部分放電ボイド検出

项目摘要

本研究では、これまでに当該分野では利用例のない低線量γ線の照射による絶縁物中の内部部分放電特性およびそれらに及ぼす印加電圧周波数の影響を明らかし、絶縁物中のボイド検出を試みた。実験として、模擬ボイドを含む絶縁物にγ線をナロ-ビームとしてスキャンしながら照射し、γ線がボイド位置に照射されたときの部分放電特性の変化を評価した。その結果、γ線源がボイドに近ずくにつれて放電電荷量の小さな放電が数多く発生するようになり、ボイドの中心上においてその影響が最大になった。これはγ線の電離作用によりボイド内の初期電子がより多く供給され、部分放電が容易に発生するためであると思われる。次に印加電圧の周波数に注目し実験を行った。その結果、商用周波数電圧印加時よりも低周波電圧印加時の方が部分放電特性に及ぼすγ線照射の影響をより鮮明にすることができた。商用周波数においては、先行する放電により残存した絶縁物表面の電子が次に発生する放電に影響を及ぼすため、放射線照射による放電の初期電子を供給する効果が弱体化するためと考えられた。これに対して、低周波電圧印加時には放電の間隔が長くなるため、γ線照射の効果がより顕著になるためであるとわかった。これらの結果より低周波電圧印加とγ線照射を利用すれば絶縁物中のボイド検出が可能であると考えられる。また低周波電源の利用により、電圧印加時の機器に流れる充電電流を大幅に小さくでき、装置全体の大幅な小型化・軽量化が可能となる。そしてγ線源はX線源と異なり高圧電源が不要でかつその大きさも小指の先以下であることから低周波電源との組み合わせは、現場適用性に優れた新しい絶縁物中のボイド検出技術の確立が見込まれると思われる。

在这项研究中，我们揭示了由于没有在ART中使用的低剂量伽马射线的照射而导致的绝缘体内部放电特性，以及施加的电压频率对它们的影响，并试图检测绝缘体中的空隙。作为一个实验，将伽玛射线照射到扫描时包含模拟的空隙的绝缘体中，并评估伽玛射线被照射到空隙位置时的部分放电特性的变化。结果，随着伽马射线源接近空隙，许多排放量的排放开始开始发生，从而对空隙的中心产生了最大的影响。这被认为是因为伽马射线的电离作用在空隙中提供了更多的初始电子，并且很容易产生部分放电。接下来，进行了一项实验，并注意施加电压的频率。结果，当应用低频电压时，伽马射线照射对部分放电特性的影响比应用商用频率电压时更清晰。据认为，在商业频率下，由于先前的放电而剩下的绝缘子表面上的电子会影响下一代排放，这削弱了提供由辐射引起的放电的初始电子的效果。另一方面，发现这是因为当使用低频电压时，放电间隔变得更长，并且伽玛照射的效果变得更加明显。这些结果表明，可以使用低频电压和γ射线照射来实现绝缘体中的空隙检测。此外，使用低频电源允许在将电压施加到电压时大大降低时流过设备的充电电流，从而可以显着降低设备的总尺寸和重量。与X射线源不同，伽玛射线源不需要高压电源，并且它们的尺寸低于小手指的尖端，因此，当与低频电源结合使用时，绝缘体中新的空隙检测技术可能非常适用。