シリコン半導体製造材料による腎毒性の研究

硅半导体制造材料引起的肾毒性研究

基本信息

批准号：
04670314
负责人：
中島宏
金额：
--
依托单位：
Keio University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
财政年份：
1992
资助国家：
日本
起止时间：
1992 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

テトラエトキシシランの急性曝露を受けた際の腎障害の発症を知るのに適当な指標についての知見を得る目的で、若齢成獣ICRマウスを用い、1000ppm・1時間、500ppm・1時間および500ppm・4時間のテトラエトキシシラン吸入曝露を行い、曝露4週後まで、経時的に、尿中総蛋白、無機リンの尿中排泄、N-acethy1-β-D-glucosaminidase、alanine aminopeptidaseおよびlactate dehydrogenaseの尿中酵素定量について検査を行い、その有用性について、病理組織学的検査、血液生化学的検査とともに検討した。血液生化学的検査では、明かな腎機能異常は見られなかったが、病理組織学的検討では、腎病変の有所見率は、500ppm・1時間、500ppm・4時間および1000ppm・1時間曝露で、それぞれ、概略1/8、1/8および2/8であった。これに対し、N-acethy1-β-D-glucosaminidase、alanine aminopeptidaseの尿中酵素定量検査においては、明かな陽性所見は得られなかった。この結果を、そのままヒトにあてはめることはできないが、本研究のような曝露条件下では、テトラエトキシシランによる腎障害の指標としては、N-acethyl-β-D-glucosaminidase、alanine aminopeptidaseの尿中酵素定量検査は有用ではないかも知れない。尿中総蛋白および無機リンの尿中排泄の結果についても、明かな尿細管異常を示す所見は得られなかった。lactate dehydrogenaseの尿中酵素定量検査は、曝露後2週目までは、測定限界以下の検体が多く、明確な判断を下せなかったが、曝露後4週経過した検体にのみ、統計学的に有意ではないものの、曝露濃度の上昇あるいは曝露時間の長時間化にともない、lactate dehydrogenase活性の値が大きくなる傾向が窺え、今後さらに検討すべき課題と考えられた。

为了获得适合确定急性暴露于四乙氧基硅烷时肾损伤发生的指标的信息，将年轻成年ICR小鼠暴露于1000 ppm 1小时、500 ppm 1小时和50 ppm 1小时。以0 ppm四乙氧基硅烷吸入暴露4小时，并随时间观察尿总蛋白、尿无机磷排泄、N-乙酰1-β-D-氨基葡萄糖苷酶和丙氨酸，直至暴露后4周。测试了氨肽酶和乳酸脱氢酶的尿酶测定，并与组织病理学和血液生化测试一起研究了其有效性。血液生化检查肾功能未见明显异常，但组织病理学检查显示，500ppm接触1小时、500ppm接触4小时、1000ppm接触1小时后肾脏病变发生率较高，分别约为1/8、1。分别为/8和2/8。另一方面，N-乙酰1-β-D-氨基葡萄糖苷酶和丙氨酸氨基肽酶的尿酶定量检测未获得明确的阳性结果。尽管这些结果不能直接应用于人类，但在本研究的暴露条件下，尿酶N-乙酰-β-D-氨基葡萄糖苷酶和丙氨酸氨肽酶作为四乙氧基硅烷引起的肾损伤的指标可能没有用处。尿总蛋白和尿无机磷排泄结果未发现明显肾小管异常。在乳酸脱氢酶的尿酶定量检测中，许多样品在暴露后的第二周内都低于测量限度，无法做出明确的判断，尽管不显着，但乳酸脱氢酶活性有随时间增加的趋势。暴露浓度增加或暴露时间增加，这被认为是未来应进一步研究的问题。