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A Specimen Preparation Technique for 3D Charactreization of Nano Materials at Specific-Site Using FIB-STEM/TEM System A Specimen Preparation Technique for 3D Charactreization of Nano Materials at Specific-Site Using FIB-STEM/TEM System
A Specimen Preparation Technique for 3D Charactreization of Nano Materials at Specific-Site Using FIB-STEM/TEM System
A Specimen Preparation Technique for 3D Charactreization of Nano Materials at Specific-Site Using FIB-STEM/TEM System使用 FIB-STEM/TEM 系统对纳米材料进行特定位点 3D 表征的样品制备技术
基本信息
DOI：
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--发表时间：
2007
2007期刊：
影响因子：
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--通讯作者：
T. Yaguchi
T. Yaguchi中科院分区：
文献类型：
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-- 作者： 柏景 介;橋本 研也;大森 達也;山口 正恆;高野 修;目黒 栄;赤羽 浩;T. Yaguchi
研究方向： --
MeSH主题词： --
关键词： --
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文献摘要
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数据更新时间：2024-06-01
关联基金
Development of Broad-Band Polarization-Independent Optical Amplifier using Quantum Dot Nanostructures
批准号：
19360146
19360146批准年份：
2007
2007资助金额：
11.81
11.81项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)